陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输出短路电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出高阻态电流(IOZ) 检测样品：DC/DC变换器 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法　SJ20646-97

检测项：输出电流（IO） 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管　 GB/T4023-1997 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输出短路电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 （GB 3439-1982）

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：模拟开关/多路器系列集成电路 标准：GB/T14028-92《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：漏-源短路时， 栅极截止电流 栅极漏泄电流 IGSS 检测样品：场效应晶 体管 标准：GB/T 4586－94《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》

检测项：高电平输出电流IOH 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳先进储能材料国家工程研究中心有限公司检测中心

检测项：过电流保护及输出短路保护 检测样品：直流-直流变换设备 标准：通信用直流-直流变换设备 YD/T 637-2006

检测项：直流输出电流限制或输出功率限制性能 检测样品：整流器 标准：通信用高频开关整流器YD/T 731-2008

检测项：短路电流与内阻水平 检测样品：铅酸蓄电池 标准：固定型阀控密封式铅酸蓄电池 GB/T 19638.2-2005 IEC 60896-2:1995

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理

检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

检测项：输出短路电流 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分 SJ 2215-8

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出漏电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：输出高电平电流 检测样品：TTL集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出短路电流 检测样品：运算 (电压)放大器 标准：半导体集成电路 运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

南德认证检测（中国）有限公司深圳分公司

检测项：CRD5.11输出电流限制（外部短路考察） 检测样品：手机用锂电池 标准：蜂窝电话用可充电电池的IEEE标准 IEEE1725:2011 CTIA关于电池系统符合IEEE1725的认证要求 Rev.2.6 08, 2013

检测项：负载输出电压和输出电流 检测样品：电力变压器、电源、电抗器和类似产品 标准：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全第1部分：通用要求和试验 IEC61558-1:1997 +A1:1998 EN 61558-1: 1997 +A1:1998 +A11:2003 IEC 61558-1:2005 +A1:2009 EN 6155

检测项：CRD 5.7 限制输出电流 检测样品：便携式计算机用蓄电池 标准：便携式计算机用蓄电池标准 IEEE1625:2008 及电池系统符合IEEE1625的证书要求 CRD Revision 1.9（2013-08）

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>