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检测项:漏电闭锁试验 检测样品:电网谐波 标准:《电能质量 公用电网谐波》GB/T14549-1993
检测项:漏电电阻、闭锁电阻 检测样品:矿用防爆低压交流真空馈电开关 标准:《煤矿井下低压供电系统及装备通用安全技术要求》AQ1023-2006《矿用防爆低压交流真空馈电开关》MT871-201
检测项:主电路漏电保护和漏电闭锁保护 检测样品:矿用防爆低压交流真空馈电开关 标准:《煤矿井下低压供电系统及装备通用安全技术要求》AQ1023-2006《矿用防爆低压交流真空馈电开关》MT871-201
机构所在地:山东省枣庄市 更多相关信息>>
检测项:闭锁启动压力值 检测样品:室内照度 标准:GB/T 18204.21-2000 公共场所照度测定方法
检测项:闭锁返回压力值 检测样品:室内照度 标准:GB/T 18204.21-2000 公共场所照度测定方法
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:开关、刀闸闭锁逻辑试验 检测样品:电力系统安全稳定控制装置及自动化系统 标准:远动终端设备 GB/T 13729-2002
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:闭锁调节 检测样品:建筑用闭门器 标准:建筑用闭门器JG/T268-2010
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:栅-源阈值电压VGS(TO) 检测样品:场效应管 标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:ECL电路 标准:半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996
检测项:输出低电平阈值电压 检测样品:ECL电路 标准:半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:阈值 检测样品:微加速度传感器 标准:单轴摆式伺服线加速度计试验方法 GJB 1037A-2004
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:阈值电流IT 检测样品:电压比较器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项:栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品:晶体振荡器 标准:《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:栅-源阈值电压 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项:同步阈值电压VT(S) 检测样品:脉宽调制器 标准:半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项:输入阈值电平电压VT(I) 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:阈值电压VT 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:阈值电流IT 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:阈值电压 检测样品:混合集成电路 标准:膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996
检测项:阈值电流 检测样品:混合集成电路 标准:膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996
检测项:阈值电压 检测样品:场效应管IGBT 标准:半导体分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>