北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：电源电流ICC 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：发射极-基极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

陕西千山航空电子有限责任公司检测中心

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005中4.5节及产品手册要求

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国物品编码中心自动识别技术检验实验室

检测项：接触式IC卡物理特性 检测样品：集成电路(IC)卡 标准：1. GB/T 17554.3-2006识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备 2.ISO/IEC10373-3：2001识别卡－测试方法－第3部分：接触式集成电路卡及相关接口设备

检测项：接触式IC卡尺寸与位置 检测样品：集成电路(IC)卡 标准：1. GB/T 16649.2-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分：触点的尺寸和位置 2. ISO/IEC 7816-2:2007 识别卡-带触点的集成电路卡- 第2部分：带触点卡片的尺寸和位置

检测项：接触式IC卡电信号和传输协议 检测样品：集成电路(IC)卡 标准：1. GB/T 16649.3-2006识别卡 带触点的集成电路卡 第3部分：电信号和传输协议 2.ISO/IEC7816-3：2006 识别卡-带触点的集成电路卡-第三部分：电信号和传输协议

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：电源电流Icc 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路 标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路

检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：数字集成电路 标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：电源电流ICC 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：电源电流ICC 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：功能测试 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：静态条件下的电源电流(ICC) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：基准电压 （VREF） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：功能测试 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

北京通和实益电信科学技术研究所有限公司威尔克通信实验室

检测项：网络信息安全 检测样品：WCDMA 数字移动终端 标准：YD/T 1763.4-2011 TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡（UICC）与终端间Cu接口测试方法 第4部分：支持终端通用用户识别模块（USIM）应用的通用集成电路卡（UICC）

检测项：USIM卡接口性能 检测样品：WCDMA 数字移动终端 标准：YD/T 1763.1-2011 TD-SCDMA/WCDMA 数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡（UICC）与终端间Cu接口测试方法 第1部分：物理、电气和逻辑特性

检测项：USIM卡接口性能 检测样品：WCDMA 数字移动终端 标准：YD/T 1762.1-2011 TD-SCDMA/WCDMA数字蜂窝移动通信网 通用集成电路卡（UICC）与终端间Cu接口技术要求 第1部分：物理、电气和逻辑特性

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：电源电流Icc 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：正输入电流Ib+ 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：负输入电流Ib- 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：*部分项目 检测样品：税控IC卡 标准：SHC1101系列非接触式集成电路卡 Q/OAKC001-2001

检测项：部分项目 检测样品：*非接触式IC卡 标准：SHC1101系列非接触式集成电路卡 Q/OAKC001-2001

检测项：*声压级检测 检测样品：接触式IC卡 标准：识别卡 带触点的集成电路卡第3部分： 电信号和传输协议 GB/T16649.3-2006 ISO/IEC 7816-3-2006

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