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检测项:老炼试验 检测样品:微波组件 标准:《微波元器件性能测试方法》GJB2650-1996
检测项:输入二极管正向电压 检测样品:双极型晶体管 标准:《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994
检测项:输入二极管反向电流 检测样品:双极型晶体管 标准:《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994
机构所在地:江苏省扬州市
检测项:老炼 检测样品:电子元器件 标准:GJB 128A-1997《 半导体分立器件试验方法》
检测项:老炼 检测样品:电子元器件 标准:GJB548B-2005《微电子器件试验方法和程》序
检测项:密封性 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》
机构所在地:北京市
检测项:老炼试验 检测样品:电子元器件及设备 机械性能试验 标准:1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:集电极-基极截止电流ICBO 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管
机构所在地:河北省石家庄市
检测项:光老炼 检测样品:光伏组件 标准:薄膜光伏组件 设计鉴定和定型 IEC61646:2008
检测项:光老炼 检测样品:光伏组件 标准:薄膜光伏组件 设计鉴定和定型 IEC61646:2008
机构所在地:北京市