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检测项:配置项测试 检测样品:军用软件质量度量 标准:GJB 5236-2004 军用软件质量度量
检测项:用户文档集要求 检测样品:国防和军用软件测试 标准:GJB/Z 141-2004 军用软件测试指南 GJB 5369-2005 航天型号软件C语言安全子集 QJ 3027-98 航天型号软件测试规范
检测项:编码规则检查 检测样品:可编程逻辑器件软件测试 标准:ECSS-Q-ST-60-02C《Space product assurance ASIC and FPGA development》 Q/QJB 179-2010可编程逻辑器件软件工程管理要求
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:核载、轴荷和质量参数 检测样品:汽车整车 标准:只测4.1 项
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:感官5项 检测样品:饮用水 标准:生活饮用水标准检验方 法感官性状和物理指标 GB/T 5750.4-2006
检测项:汞 检测样品:食品 标准:食品中总汞及有机汞测定GB/T 5009.17-2003
检测项:甲醇 检测样品:白酒 标准:蒸馏酒及配制酒卫生分析方法 GB/T5009.48-2003
检测项:部分参数 检测样品:旅店业卫生 标准:《旅店业卫生标准》GB 9663-1996
检测项:部分参数 检测样品:游泳场所卫生 标准:《游泳场所卫生标准》GB 9667-1996
检测项:苯乙烯 检测样品:生活饮用水 标准:《生活饮用水标准检验方法 有机物指标》GB/T 5750.8-2006 溶剂萃取-毛细管柱气项色谱法 /18.2
机构所在地:山东省青岛市 更多相关信息>>
检测项:电磁辐射骚扰 检测样品:非故意发射设备 标准:FCC 联邦法令 第47项– 通信 第18部分 工业、科学、医疗设备 FCC PART 18:2010
检测项:传导骚扰 检测样品:非故意发射设备 标准:FCC 联邦法令 第47项– 通信 第18部分 工业、科学、医疗设备 FCC PART 18:2010
检测项:辐射骚扰 检测样品:非故意发射设备 标准:FCC 联邦法令 第47项– 通信 第15部分 无线电频率设备 FCC PART 15:2010
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:有机氯农药(共8项) 检测样品:水(含饮用水)和地下水、地表水、废水 标准:水质 硝基苯、硝基甲苯、硝基氯苯、二硝基甲苯的测定 气相色谱法 GB/T 13194-1991
检测项:有机氯农药(共8项) 检测样品:水(含饮用水)和地下水、地表水、废水 标准:水质 六六六、滴滴涕的测定 气相色谱法 GB/T 7492-1987
检测项:苯系物(共8项) 检测样品:水(含饮用水)和地下水、地表水、废水 标准:水质 阴离子表面活性剂的测定 亚甲蓝分光光度法 GB/T 7494-1987
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:总碱度 检测样品:地下水、地表水、易容盐简项分析 标准:岩石矿物分析 第十三篇水分析 碱度的测定
检测项:PH值 检测样品:地下水、地表水、易容盐简项分析 标准:地下水质检验方法 玻璃电极法测定PH值 DZ/T0064.5-93
机构所在地:河北省三河市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:儿童皮鞋 标准:儿童皮鞋 QB/T 2880-2007
检测项:邻苯二甲酸酯(DEHP, DBP,BBP,DINP,DIDP,DNOP) 检测样品:纺织品 标准:邻苯二甲酸酯标准测试程序 CPSC-CH-C1001-09.3
检测项:总铅 检测样品:玩具,儿童产品和装饰品 标准:加拿大产品安全参考手册 第5册 实验室的政策和程序B部分:试验方法C-02.4检测消费品中金属材料的总铅
机构所在地:广东省惠州市 更多相关信息>>
检测项:软件配置项测试 检测样品: 标准:GJBZ141-2004 军用软件测试指南/8、7.4.23
检测项:筛选试验 检测样品:微电路及器件 标准:1、《微电路模块总规范》SJ 20668-1998 2、《混合集成电路总规范》 GJB 2438A-2002 3、《集成电路应力试验评价》AEC Q100-2007 4、《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 5、《半导体器件 第1部分:半导体分
检测项:鉴定试验 检测样品:元器件破坏性物理分析 标准:1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》
检测项:质量一致性试验 检测样品:元器件破坏性物理分析 标准:1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》