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波美度(DegreeBaum′e) 采用玻璃管式浮计中的一种特殊分度方式的波美计所给出的值称为波美度，符号为°B′e。用于间接地给出液体的密度。 波美度 测试仪器：波美度测试仪 查看详情>>
波美度(DegreeBaum′e)
采用玻璃管式浮计中的一种特殊分度方式的波美计所给出的值称为波美度，符号为°B′e。用于间接地给出液体的密度。
波美度测试仪器：波美度测试仪
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检测项：传声增益 检测样品：软件产品 标准：软件工程 软件产品质量要求与评价（SQuaRE) 商业现货（COTS)软件产品的质量要求和测试细则 GB/T 25000.51-2010
检测项：铝合金门窗隔断立面垂直度 检测样品：电子信息系统机房 标准：电子信息系统机房施工及验收规范 GB 50462-2008
检测项：图像色调及色保护度 检测样品：视频显示系统 标准：视频显示系统工程技术规范 GB 50464-2008发光二极管（LED）显示屏测试方法 SJ/T 11281-2007
机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>
检测项：开环电压增益 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008
检测项：开环电压增益 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：(1)电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：增益误差 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件
检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：增益 （默认音量到最大音量） 检测样品：数字电话 标准：手持式电话助听器耦合和接收音量控制磁输出的要求及测试方法 CS-03 Part V：2009
检测项：增益 （默认音量到最大音量） 检测样品：数字电话 标准：终端设备到电话网络的连接 FCC Part68-2008
检测项：天线性能测试 检测样品：通信设备（移动台电磁辐射测试SAR） 标准：移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008
检测项：比吸收率测试（SAR） 检测样品：通信设备（移动台电磁辐射测试SAR） 标准：天线测试方法 IEEE Std149-2003
检测项：静电放电抗扰度 （ESD) 检测样品：通信设备(电磁兼容EMC) 标准：电信设备的抗扰度通用要求 GB/T 19287-2003
检测项：增益 检测样品：移动通信室内信号分布系统天线 标准：GB/T 21195-2007《移动通信室内信号分布系统天线技术条件》
检测项：增益 检测样品：TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网智能天线 标准：YD/T 1710.1-2007《TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网智能天线 第1部分：天线》
检测项：增益 检测样品：移动通信系统基站天线 标准：GB/T9410-2008 《移动通信天线通用技术规范》 YD/T 1059-2004 《移动通信系统基站天线技术条件》
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：增益限制的有效频率范围 检测样品：声频功率放大器 标准：SJ/T 10406-1993 声频功率放大器通用技术条件 GB/T 9001-1988 声频放大器测量方法
检测项：色泽稳定性 检测样品：发油 标准：发油QB/T 1862-1993
检测项：稳定性 检测样品：润肤乳液 标准：润肤乳液 QB/T2286-1997
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：天线性能 检测样品：无线通信设备（空中性能） 标准：移动通信系统基站天线技术条件 YD/T 1059－2004
检测项：静电放电抗扰度 检测样品：电子产品(电磁兼容) 标准：信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB 17618-1998 信息技术设备抗扰度限值和测量方法 EN 55024:2010 信息技术设
检测项：辐射骚扰抗扰度 检测样品：电子产品(电磁兼容) 标准：电磁兼容 试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006 电磁兼容 试验和测量技术静电放电抗扰度试验 IEC 61000-4-2:2008-12
检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996
检测项：增益带宽积 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996
检测项：直流增益 检测样品：晶体管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3076.1
检测项：静电放电抗扰度 检测样品：电子电器产品 标准：电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006、 IEC 61000-4-2:2008
检测项：浪涌(冲击)抗扰度 检测样品：电子电器产品 标准：电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008、 IEC 61000-4-5:2005
