左、右声道间的电平差检测实验

棘突植入物

简介

棘突植入物

简介

棘突植入物产品描述：通常由单个或多个部件组成。一般采用钛合金等材料制成。该产品可用于在腰椎棘突间施加一定的撑开力，限制腰椎过度后伸。

棘突植入物预期用途：用于维持腰椎活动节段棘突间的稳定。

棘突植入物品名举例：棘突间植入物

棘突植入物管理类别：Ⅲ

棘突植入物相关指导原则：
1、3D打印人工椎体注册技术审查指导原则
2、增材制造金属植入物理化性能均一性研究指导原则

棘突植入物相关标准：
1、YY/T 1701-2020 用于增材制造的医用Ti-6Al-4V/Ti-6Al-4V ELI粉末
2、YY/T 0772.3-2009 外科植入物超高分子量聚乙烯第3部分：加速老化方法
3、YY/T 0772.4-2009 外科植入物超高分子量聚乙烯第4部分：氧化指数测试方法

收起百科↑ 最近更新：2023年04月03日

搜索条件所在地区: 所属类别:

东莞市食品药品检验所

检测项：对苯二胺、邻苯二胺和间苯二胺检测样品：食品标准：化妆品中对苯二胺、邻苯二胺和间苯二胺的的测定GB/T24800.12-2009

检测项：压差检测样品：洁净区（室）环境标准：GB/T 18204.16-2000

检测项：压差检测样品：化妆品标准：卫生部《化妆品卫生规范》（2007版）第三部分二十一

机构所在地：广东省东莞市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
公安部交通管理科学研究所交通安全产品质量监督检测中心

检测项：全部项目检测样品：道路交通信号控制机与车辆检测器间的通信协议标准：GA/T920-2010《道路交通信号控制机与车辆检测器间的通信协议》

检测项：全部项目检测样品：道路交通信号控制机与车辆检测器间的通信协议软件标准：GA/T920-2010《道路交通信号控制机与车辆检测器间的通信协议》

检测项：全部项目检测样品：汽车及挂车车身反光标识标准：GB 23254-2009《汽车及挂差车身反光标识》

机构所在地：江苏省无锡市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国兵器装备集团西南技术工程研究所环境试验检测中心

检测项：热分析检测样品：高分子聚合物标准：ASTM E 2160-2004 用差示扫描量热法测定热反应材料的反应热的标准试验方法 ASTM D 4419-1990 差示扫描量热法（DSC）测量石油蜡转变温度的标准试验方法

检测项：热分析检测样品：高分子聚合物标准：GB/T 19466.2-2004（eqv ISO 11357-2:1999）塑料差示扫描量热（DSC）第2部分：玻璃化转变温度的测定 GB/T 19466.3-2004（eqv ISO 11357-3:1999）塑料差示扫描量热（DSC）第

检测项：热分析检测样品：高分子聚合物标准：ASTM D 3418-2008 用差示扫描量热法测定聚合物转变温度及熔融和结晶热焓的标准试验方法

机构所在地：重庆市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输出高电平电压检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输出低电平电压检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输入低电平电压检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京无线电计量测试研究所

检测项：静区反射电平检测样品：微波暗室标准：天线测试方法天线测试场的鉴定 SJ2534.4-1985

检测项：交流电源端口谐波和谐间波低频抗扰度检测样品：电子和电气产品、信息设备、军用设备标准：电磁兼容试验和测量技术交流电源端口谐波和谐间波及电网信号的低频抗扰度试验 GB/T17626.13-2006/ IEC61000-4-13:2002

检测项：调谐电平检测样品：扫频信号发生器标准：扫频信号发生器测试方法 GB/T13184-1991

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：低电平电压检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：高电平电压检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：输出低电平电流检测样品：CMOS集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

机构所在地：江苏省扬州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：导通电阻路差ΔRon 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：存储器标准：《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：TTL电路标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：TTL电路标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖北省计量测试技术研究院

检测项：抑制电平检测样品：超声探伤仪标准：无损检测超声检测设备的性能与验证第1部分：仪器 EN12668-1:2000

检测项：前向放大的自发辐射（ASE）功率电平检测样品：光纤放大器（EDFA）标准：光纤放大器试验方法基本规范第2部分:功率参数的试验方法 GB/T 16850.2-1999

检测项：反向放大的自发辐射（ASE）功率电平检测样品：光纤放大器（EDFA）标准：光纤放大器试验方法基本规范第2部分:功率参数的试验方法 GB/T 16850.2-1999

机构所在地：湖北省武汉市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海精密计量测试研究所

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路采样/保持放大器标准：GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

棘突植入物

简介

棘突植入物

简介

东莞市食品药品检验所

公安部交通管理科学研究所交通安全产品质量监督检测中心

中国兵器装备集团西南技术工程研究所环境试验检测中心

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

北京无线电计量测试研究所

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

贵州航天计量测试技术研究所

湖北省计量测试技术研究院

上海精密计量测试研究所

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务