中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：探针测试 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：内部目检 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：附加电气试验 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：电源电流ICC 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：耐湿 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：温度循环 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：方法301 介质耐电压试验 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

检测项：方法302 绝缘电阻测试 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

检测项：稳定性烘焙 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：最高额定工作 温度下的静态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

检测项：25℃下的 动态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

检测项：最高额定工作 温度下的动态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

惠州市蓝微电子有限公司实验室

检测项：-18℃放电性能 检测样品： 标准：

检测项：40℃放电性能 检测样品： 标准：

检测项：恒定湿热 检测样品： 标准：

机构所在地：广东省惠州市 更多相关信息>>

天津三星电子有限公司规格认证中心

检测项：附录G 燃烧试验方法 检测样品： 标准：

检测项：爬电距离和电气间隙 检测样品： 标准：

检测项：耐久性试验 检测样品： 标准：

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：温度循环 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：老炼试验 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：稳定性烘焙 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

广州广电计量检测股份有限公司

检测项：浸渍 检测样品：微电子 器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

检测项：耐湿 检测样品：微电子 器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

检测项：寿命 检测样品：微电子 器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：阈值试验 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：外壳绝缘 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：两个或三个引出端之间电测试 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：湿度 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法1008.1稳定性烘焙GJB548B-2005

检测项：冲击 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法1004.1耐湿GJB548B-2005

检测项：振动试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法2002.1机械冲击 GJB548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>