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检测项：金相切片 检测样品：印刷电路板&印刷电路板组装 标准：GJB548 B-2005 微电子器件试验方法和程序
检测项：显微镜观察 检测样品：印刷电路板&印刷电路板组装 标准：GJB548 B-2005 微电子器件试验方法和程序
检测项：X射线检查 检测样品：印刷电路板&印刷电路板组装 标准：GJB548 B-2005 微电子器件试验方法和程序
机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项：直流电阻测试 检测样品：电子及电气元件 标准：《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
检测项：接触电阻测试 检测样品：电子及电气元件 标准：《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
检测项：触点抖动监测 检测样品：电子及电气元件 标准：《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项： 检测样品： 标准：
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：电流调整率SI 检测样品：集成电路筛选 标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序
检测项：温度循环 检测样品：集成电路筛选 标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序
检测项：电源电压抑制比 检测样品：CMOS电路 标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序第4.5节方法5005.2
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：低温试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1008.1
检测项：老炼试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1015.1
检测项：温度冲击试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1010.1
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：介质耐压 检测样品：电工电子产品 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序中方法1003
检测项：焊接性能试验 检测样品：电工电子产品 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序中方法1014
检测项：振动 检测样品：电工电子产品 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序中方法1004
机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项：温度循环 检测样品：集成电路 筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项：外部目检 检测样品：集成电路 筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项：粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品：集成电路 筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项：老炼试验 检测样品：元器件 筛选 标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005
检测项：温度循环 检测样品：元器件 筛选 标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005
检测项：密封试验 检测样品：元器件 筛选 标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：输出电流IO 检测样品：集成电路筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项：输出纹波电压Vrip 检测样品：集成电路筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项：电压调整率SV 检测样品：集成电路筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：动作电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006
检测项：返回电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006
检测项：动作时间测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
