无源元件的目检检测实验

直接检眼镜

简介

直接检眼镜产品描述：通常由照明系统和观察系统组成。照明系统包括灯泡、聚光镜和反射镜。观察系统包括窥孔和聚焦补偿系统。直接检眼镜预期用途：用于检查视网膜。直接检眼镜品名举例：直接检眼镜、广角检眼镜直接检眼镜管理类别：Ⅱ 直接检眼镜相关指导原则： 1、直接检眼镜注册技术审查指导原则直接检眼镜相关标准： 1 ...查看详情>>

直接检眼镜

简介

直接检眼镜产品描述：通常由照明系统和观察系统组成。照明系统包括灯泡、聚光镜和反射镜。观察系统包括窥孔和聚焦补偿系统。

直接检眼镜预期用途：用于检查视网膜。

直接检眼镜品名举例：直接检眼镜、广角检眼镜

直接检眼镜管理类别：Ⅱ

直接检眼镜相关指导原则：
1、直接检眼镜注册技术审查指导原则

直接检眼镜相关标准：
1 . GB 9706.1—2007 医用电气设备第1部分：安全通用要求
2 . GB/T 14710—2009 医用电器环境要求及试验方法
3 . YY 1080—2009 眼科仪器直接检眼镜
4 . YY 0505—2012 医用电气设备第1—2部分：安全通用要求并列标准：电磁兼容要求和试验
5 . YY/T 0316—2016 医疗器械风险管理对医疗器械的应用
6 . ISO 15004-2:2007 Ophthalmic instruments -- Fundamental requirements and test methods -- Part 2: Light hazard protection
7 . 眼科手术器械基本要求和试验方法第2部分：光危害防护
8、YY 0634-2008 眼科仪器眼底照相机

收起百科↑ 最近更新：2023年04月27日

搜索条件所在地区: 所属类别:

北京光华无线电厂检测试验中心

检测项：外部目检检测样品：塑封半导体集成电路标准：军用装备实验室环境试验方法第23部分：倾斜和摇摆试验 GJB150.23A-2009

检测项：外部目检检测样品：塑封半导体集成电路标准：军用设备环境试验方法倾斜和摇摆试验 GJB 150.23-1991

检测项：外部目检检测样品：塑封半导体集成电路标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：内部目检和结构检查检测样品：标准：

检测项：内部目检和结构检查检测样品：标准：

检测项：密封(细检) 检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：辽宁省沈阳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：外部目检检测样品：集成电路筛选标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：输入失调电流检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入偏置电流检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

机构所在地：甘肃省兰州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：外部目检检测样品：电子、电工产品标准：《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009

检测项：密封试验检测样品：元器件筛选标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

检测项：密封试验检测样品：元器件筛选标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：外部目检检测样品：塑封微电子器件标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目1103 GJB 4027A-2006

检测项：外部目检检测样品：塑封微电子器件标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目1103 GJB 4027A-2006

检测项：内部目检检测样品：电子元器件/电工电子产品标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法工作项目1103 GJB 4027A-2006

机构所在地：江苏省苏州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
通标标准技术服务有限公司青岛分公司

检测项：部分参数检测样品：焊接接头标准：钢结构焊接规范 AWS D1.1/D1.1M-2010

检测项：部分参数检测样品：焊接接头标准：结构钢焊接第1部分钢结构焊接 AS/NZS 1554.1-2011

检测项：部分参数检测样品：蛋制品标准：蛋制品卫生标准 GB 2749-2003

机构所在地：山东省青岛市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
广东省电子电器产品监督检验所

检测项：外部目检检测样品：发光二极管标准：半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006

检测项：外部目检检测样品：整流二极管标准：半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006

检测项：外部目检检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006

机构所在地：广东省广州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：外部目检检测样品：闸流晶体管标准：SJ/Z9014.3-1987半导体器件分立器件和集成电路第６部分：闸流晶体管

检测项：正向阈值电压下的输入电流检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：负向阈值电压下的输入电流检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖南航天管理局计量检测中心

检测项：外观目检检测样品：集成电路筛选标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：外观目检检测样品：集成电路筛选标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：表面粗糙度检测样品：固定电阻器标准：产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓评定表面结构的规则和方法GB10610-2009

机构所在地：湖南省长沙市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
通标标准技术服务有限公司南京分公司检测中心

检测项：外观检测样品：化工产品标准：清澈透明液体外观试验方法（目检法）ASTM E2680-09e1

检测项：密度检测样品：化工产品标准：液态工业化合物的比重,表观比重的试验方法 ASTM D891-09

检测项：高锰酸钾氧化时间检测样品：化工产品标准：丙铜和甲醇的高锰酸钾氧化时间的试验方法 ASTM D1363-06（2011）

机构所在地：江苏省南京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

直接检眼镜

简介

直接检眼镜

简介

北京光华无线电厂检测试验中心

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

通标标准技术服务有限公司青岛分公司

广东省电子电器产品监督检验所

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

湖南航天管理局计量检测中心

通标标准技术服务有限公司南京分公司检测中心

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务