东方通信股份有限公司检测中心

检测项：最大RF输出功率 检测样品：移动用户终端 标准：800MHz CDMA 1X 数字蜂窝移动通信网设备测试方法 移动台 第一部分 基本无线指标、功能和性能》 YDC 023－2006

检测项：充电电流 检测样品： 标准：

检测项：发射机输出功率和突发脉冲定时 检测样品：移动用户终端 标准：《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线 业务（GPRS）设备测试方法：移动台》 YD/T 1215-2006

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：浪涌（冲击）抗扰度 检测样品：电子和电气产品、信息设备及军用设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验GB/T17626.5-2008 / IEC-61000-4-5：2005

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

广东明家科技股份有限公司实验室

检测项：部分项目 检测样品：电涌保护器 标准：GB18802.1-2002/ IEC61643-1:2005低压配电系统的电涌保护器第1部分：性能要求和试验方法； GB/T 18802.21-2004/IEC61643-21:2000电信和信号网络的电涌保护器(SPD)---性能要求和试验方法

检测项：部分项目 检测样品：电涌保护器 标准：UL1449:2006 电涌保护器

检测项：部分项目 检测样品：家用和类似用途的插头插座 标准：GB 2099.1-2008家用和类似用途插头插座 第一部分：通用要求 IEC 60884-1:2006家用和类似用途插头插座

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：ECL电路 标准：半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996

检测项：输出低阻态时低电平电流 检测样品：ECL电路 标准：半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

福建省正毅工业计量站有限公司

检测项：输出电流 检测样品：直流稳压电源 标准：测量用直流稳压电源装置JB/T 9303-1999

检测项：输出电流 检测样品：直流稳压电源 标准：测量用直流稳压电源装置JB/T 9303-1999

检测项：输出电压 检测样品：交流稳压电源 标准：交流稳压(稳频)电源 JB/T 7397-1994

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

北京无线电计量测试研究所

检测项：输出电压漂移 检测样品：直流稳定电源 标准：微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008　

检测项：输出电压 检测样品：频率标准 标准：石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995

检测项：输出频率 检测样品：频率标准 标准：石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出漏电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：输出高电平电流 检测样品：TTL集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：输出电压 检测样品：电压调整器 标准：《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》GB/T4377-1996

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国舰船研究设计中心检测校准实验室

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统 标准：Q/701J352-2010《地电流测试方法》

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统 标准：《地电流测试方法》 Q/701J352-2010

检测项：谐波电流发射 检测样品：声音和广播电视设备 标准：《电磁兼容限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A)》 GB17625.1-2012/IEC61000-3-2:2009

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：高电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：低电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：输出电流 检测样品：混合集成电路 标准：混合集成电路DC/DC变换器 测试方法　 SJ20646-1997

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>