电致变色器件检测实验

致敏反应试验

简介

YY/T 0879.1-2013医疗器械致敏反应试验第1部分：小鼠局部淋巴结试验(LLNA) 放射性同位素掺入法 YY/T 0879.2-2015医疗器械致敏反应试验第2部分：小鼠局部淋巴结试验(LLNA)BrdU-ELISA法查看详情>>

致敏反应试验

简介

YY/T 0879.1-2013医疗器械致敏反应试验第1部分：小鼠局部淋巴结试验(LLNA) 放射性同位素掺入法
YY/T 0879.2-2015医疗器械致敏反应试验第2部分：小鼠局部淋巴结试验(LLNA)BrdU-ELISA法

检测项目

致敏反应试验
致敏

收起百科↑ 最近更新：2022年04月19日

搜索条件所在地区: 所属类别:

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：电参数测试检测样品：半导体分立器件失效分析标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

检测项：电性能测试检测样品：半导体分立器件失效分析标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

检测项：电参数测试检测样品：半导体分立器件失效分析标准：GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序

机构所在地：河北省石家庄市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
成都泰瑞通信设备检测有限公司

检测项：电接口特性检测样品：光有源器件标准：YD/T 1327-2004 粗波分复用(CWDM)器件技术要求及试验方法

检测项：电接口特性检测样品：光有源器件标准：YD/T 1199.1-2002 SDH光发送/光接收模块技术要求-SDH 10Gb/s光接收模块

检测项：电接口特性检测样品：光有源器件标准：YD/T 1199.2-2002 SDH光发送/光接收模块技术要求-SDH 10Gb/s光发送模块

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
机械工业仪器仪表元器件质量检验所

检测项：全部参数检测样品：电接点膜盒压力表标准：JB/T9275-1999电接点膜盒压力表

检测项：全部参数检测样品：电接点压力表标准：JB/T9273-1999电接点压力表

检测项：全部参数检测样品：扩散硅力敏器件标准：扩散硅力敏器件 JB/T 9481-1999

机构所在地：辽宁省沈阳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
西安通和电信设备检测有限公司无线通信实验室

检测项：抗电强度检测样品：无源器件标准：无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范第1部分：功分器 ①TLC 001-2011 无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范第2部分：合路器 ②TLC 002-2011 无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范第3部分：耦合器 ③T

检测项：控制功能检测样品：无源器件标准：无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范第1部分：功分器 ①TLC 001-2011 无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范第2部分：合路器 ②TLC 002-2011 无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范第3部分：耦合器 ③T

检测项：系统安全管理功能检测样品：无源器件标准：无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范第1部分：功分器 ①TLC 001-2011 无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范第2部分：合路器 ②TLC 002-2011 无线通信室内信号分布系统无源器件认证技术规范第3部分：耦合器 ③T

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
厦门宏发电声股份有限公司检测中心

检测项：相比电痕化指数和耐电痕化指化指数检测样品：电工电子产品（元器件）（环境试验、着火危险等试验）标准：固体绝缘材料在潮湿条件下相比电痕化指数和耐电痕化指数的测定方法 IEC 60112 :2009 GB/T 4207-2003

检测项：相比电痕化指数和耐电痕化指化指数检测样品：电工电子产品（元器件）（环境试验、着火危险等试验）标准：固体绝缘材料在潮湿条件下相比电痕化指数和耐电痕化指数的测定方法 IEC 60112 :2009 GB/T 4207-2003

检测项：电寿命检测样品：电工电子产品（元器件）（环境试验、着火危险等试验）标准：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温 IEC 60068-2-1:2007 GB/T 2423.1-2008

机构所在地：福建省厦门市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
陕西千山航空电子有限责任公司检测中心

检测项：部分电参数测试检测样品：半导体分立器件标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-97中方法3011、3407、4011、4016及产品手册

检测项：部分电参数测试检测样品：半导体分立器件标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-97中方法3011、3407、4011、4016及产品手册

检测项：部分电参数测试检测样品：半导体分立器件标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-97中方法3011、3407、4011、4016及产品手册

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：高温电老炼检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：杂散输出检测样品：微波器件标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

检测项：输入驻波比检测样品：微波器件标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

机构所在地：河南省郑州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
广东省电子电器产品监督检验所

检测项：电耐久性检测样品：整流二极管标准：半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006

检测项：电耐久性检测样品：发光二极管标准：半导体分立和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

检测项：电耐久性检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

机构所在地：广东省广州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：两个或三个引出端之间电测试检测样品：集成电路/微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：两个或三个引出端之间电测试检测样品：集成电路/微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：扫描电子显微技术和电子束显微分析检测样品：集成电路/微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省苏州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
河南平原光电有限公司环境模拟与可靠性试验中心

检测项：电子元器件老化筛选试验检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品标准：电子及电气元件试验方法GJB360B-2009 方法302;303;305

检测项：盐雾试验检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：盐雾试验检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

机构所在地：河南省焦作市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

首页
上一页
1 2 3 4 5 6 7 ...Go
下一页
尾页

致敏反应试验

简介

致敏反应试验

简介

检测项目

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

成都泰瑞通信设备检测有限公司

机械工业仪器仪表元器件质量检验所

西安通和电信设备检测有限公司无线通信实验室

厦门宏发电声股份有限公司检测中心

陕西千山航空电子有限责任公司检测中心

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

广东省电子电器产品监督检验所

亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

河南平原光电有限公司环境模拟与可靠性试验中心

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务