杭州市质量技术监督检测院

检测项：部分参数 检测样品：半导体光电子器件 标准：《半导体器件 光电子器件分规范》GB/T12565-1990 《半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范》 SJ/T11400-2009 《半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范》 SJ/T11393-2009

检测项：部分参数 检测样品：半导体光电子器件 标准：《半导体器件 光电子器件分规范》GB/T12565-1990 《半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范》 SJ/T11400-2009 《半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范》 SJ/T11393-2009

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

上海微创医疗器械（集团）有限公司测试中心

检测项：植入物空白表面积 检测样品：支架输送系统 标准：小型植入器械腐蚀敏感性的循环动电位极化标准测试方法 YY/T 0695-2008

检测项：支架空白表面积和支架外表面积 检测样品：血管支架 标准：小型植入器械腐蚀敏感性的循环动电位极化标准测试方法 YY/T 0695-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：碰撞 检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：冲击 检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：气候顺序 检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：释放电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：吸合时间 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：释放时间 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

浙江省电子信息产品检验所

检测项：稳态湿热 检测样品：1类瓷介 固定电容器 标准：电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器 第8-1部分：分规范： 1类瓷介固定电容器 GB/T 5966-2011 设备用固定电容器 第8部分：空白详细规范 1类瓷介固定电容器 评定水平E GB/

检测项：耐久性 检测样品：1类瓷介 固定电容器 标准：电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器 第8-1部分：分规范： 1类瓷介固定电容器 GB/T 5966-2011 设备用固定电容器 第8部分：空白详细规范 1类瓷介固定电容器 评定水平E GB/

检测项：电气试验 检测样品：1类瓷介 固定电容器 标准：电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器 第8-1部分：分规范： 1类瓷介固定电容器 GB/T 5966-2011 设备用固定电容器 第8部分：空白详细规范 1类瓷介固定电容器 评定水平E GB/

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

上海宝钢工业技术服务有限公司宝钢环境监测站

检测项：铬 检测样品：空气与废气 标准：大气固定污染源 镉的测定 火焰原子吸收分光光光度法HJ/T64.1-2001

检测项：铜 检测样品：空气与废气 标准：大气固定污染源 镉的测定 火焰原子吸收分光光光度法HJ/T64.1-2001

检测项：锌 检测样品：空气与废气 标准：大气固定污染源 镉的测定 火焰原子吸收分光光光度法HJ/T64.1-2001

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

浙江省检验检疫科学技术研究院（浙江出入境检验检疫局检验检疫技术中心、浙江立德产品技术有限公司）

检测项：外观检查 检测样品：同轴通信电缆 标准：同轴通信电缆 第1部分:通用规范 总则、定义、要求和试验方法 IEC 61196-1:2005 同轴通信电缆 第6部分：CATV接入电缆的部分要求 IEC 61196-6:2009 同轴通信电缆 第6-1部分 CATV接入电缆空白详细规范 IEC 6

检测项：尺寸测量 检测样品：同轴通信电缆 标准：同轴通信电缆 第1部分:通用规范 总则、定义、要求和试验方法 IEC 61196-1:2005 同轴通信电缆 第6部分：CATV接入电缆的部分要求 IEC 61196-6:2009 同轴通信电缆 第6-1部分 CATV接入电缆空白详细规范 IEC 6

检测项：内导体材料 检测样品：同轴通信电缆 标准：同轴通信电缆 第1部分:通用规范 总则、定义、要求和试验方法 IEC 61196-1:2005 同轴通信电缆 第6部分：CATV接入电缆的部分要求 IEC 61196-6:2009 同轴通信电缆 第6-1部分 CATV接入电缆空白详细规范 IEC 6

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：工作电压VZ 检测样品：发光二极管 标准：1、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 3、SJ/T 11394-2009 半导体二极

检测项：微分电阻Rz 检测样品：发光二极管 标准：1、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 3、SJ/T 11394-2009 半导体二极

检测项：电压驻波比 检测样品：发光二极管 标准：1、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 3、SJ/T 11394-2009 半导体二极

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

福建火炬电子科技股份有限公司火炬电子实验室

检测项：电容量 检测样品：表面安装用1类多层瓷介固定电容器 标准：电子设备用固定电容器 第21部分：分规范 表面安装用1类多层瓷介固定电容器 GB/T 21041-2007 电子设备用固定电容器第21-1部分：空白详细规范 表面安装用1类多层瓷介固定电容器评定水平E

检测项：损耗角正切 检测样品：表面安装用1类多层瓷介固定电容器 标准：电子设备用固定电容器 第21部分：分规范 表面安装用1类多层瓷介固定电容器 GB/T 21041-2007 电子设备用固定电容器第21-1部分：空白详细规范 表面安装用1类多层瓷介固定电容器评定水平E

检测项：绝缘电阻 检测样品：表面安装用1类多层瓷介固定电容器 标准：电子设备用固定电容器 第21部分：分规范 表面安装用1类多层瓷介固定电容器 GB/T 21041-2007 电子设备用固定电容器第21-1部分：空白详细规范 表面安装用1类多层瓷介固定电容器评定水平E

机构所在地：福建省泉州市 更多相关信息>>