天津市电子仪表实验所

检测项：部分参数 检测样品：数字电视显示设备 数字电视液晶显示器 标准：数字电视液晶显示器通用规范 SJ/T 11343-2006 数字电视平板显示器测量方法 SJ/T 11348-2006

检测项：全部参数 检测样品：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效 标准：单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值 GB 20943-2007

检测项：部分参数 检测样品：数字电视显示设备数字电视等离子体显示器 标准：数字电视等离子体显示器通用规范 SJ/T 11339-2006 数字电视平板显示器测量方法 SJ/T 11348-2006

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

辽宁信鼎检测认证有限公司

检测项：最大允许输出电平 检测样品：CDMA数字蜂窝移动台 标准：《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备测试方信网设备测试方法：移动台 第一部分 基本无线指标、功能和性能》 YDC 023-2006 《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台》 YDC 015-2006 《cdma20

检测项：参考灵敏电平 检测样品：WCDMA数字蜂窝基地台 标准：《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网无线接入网络设备测试方法（第三阶段）》 YD/T 1553-2009 《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网无线接入网络设备技术要求（第三阶段）》 YD/T 1552-2009

检测项：最大输入电平 检测样品：WCDMA数字蜂窝基地台 标准：《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网无线接入网络设备测试方法（第三阶段）》 YD/T 1553-2009 《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网无线接入网络设备技术要求（第三阶段）》 YD/T 1552-2009

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：输出高电平电压Voh 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：输出低电平电压Vol 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：输出高电平VO H 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：输出高电平 电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：输出低电平 电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：输出高电平 电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

华南国家计量测试中心/广东省计量科学研究院

检测项：最高输出电平 检测样品：电子式电能表 标准：GB/T 17215.321-2008交流电测量设备 特殊要求 第21部分: 静止式有功电能表 (1级和2级) GB/T 17215.322-2008 交流电测量设备 特殊要求 第22部分: 静止式有功电能表(0.2S级和0.5S级) GB/T 172

检测项：最高输出电平 检测样品：电子式电能表 标准：GB/T 17215.321-2008交流电测量设备 特殊要求 第21部分: 静止式有功电能表 (1级和2级) GB/T 17215.322-2008 交流电测量设备 特殊要求 第22部分: 静止式有功电能表(0.2S级和0.5S级) GB/T 172

检测项：关闭状态能耗 检测样品：电源 标准：GB 20943-2007 单路输出式交流-直流和交流-交流外部电源能效限定值及节能评价值.

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

深圳天祥质量技术服务有限公司科技园经营部

检测项：发射载波输出电平 检测样品：SRD短距离发射设备 标准：电磁兼容性和无线电频谱物质.短程装置(SRD).频率范围:9KHZ～25MHZ和频率范围的无线电设备和频率范围:9HZ～30MHZ的感应县全系统.第2部分:根据R&TTE指令3.2条款协调的欧洲标准 ETSI EN 300 330-2 V1.5.1 （20

检测项：发射机输出功率 检测样品：无线电设备 标准：射频通讯设备的射频暴露符合性 RSS 102 issue 4: 2010-03

检测项：输出功率 检测样品：电子电气设备 标准：公共移动服务 FCC Part22:2012

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

快特电波科技(苏州)有限公司检测中心

检测项：发射机载波输出电平 检测样品：无线通讯设备 标准：电磁兼容性和无线频谱(ERM):短距离设备(SRD)工作在9kHz到25kHZ频率范围内的无线设备和工作在9kHz到30MHz频率范围内的感应回路系统;第1部分:技术特性和测试方法 ETSI EN 300 330-1 V1.7.1 (2010-

检测项：发射机载波输出电平 检测样品：无线通讯设备 标准：电磁兼容性和无线频谱(ERM):短距离设备(SRD)工作在9kHz到25kHZ频率范围内的无线设备和工作在9kHz到30MHz频率范围内的感应回路系统;第1部分:技术特性和测试方法 ETSI EN 300 330-1 V1.7.1 (2010-

检测项：输出功率 检测样品：无线通讯设备 标准：行动通讯设备 FCC Part 22:2011 FCC Part 24:201

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：低到高电平输出的传输延迟时间 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中捷通信有限公司检测校准中心

检测项：自动电平控制（ALC） 检测样品： 标准：

检测项：输入/输出电压驻波比 检测样品： 标准：

检测项：标称最大输出功率 检测样品：CDMA直放站 标准：800MHz/2GHz CDMA数字蜂窝移动通信网 模拟直放站技术要求和测试方法 YD/T 1596-2011

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>