阈值电压检测实验

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：栅源阈值电压VGS(th) 检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994半导体器件第8部分：场效应晶体管

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西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：阈值电压检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法 3404

检测项：阈值电压检测样品：功率金属氧化物场效应管标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法 3404

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：栅源阈值电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输入负向阈值电压VIT 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：栅-源阈值电压VGS(to）检测样品：场效应晶体管标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件分立器件第4部分：微波器件

检测项：栅-源阈值电压VGS(to）检测样品：场效应晶体管标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件分立器件第4部分：微波器件

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入正向阈值电压检测样品：电子元器件标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.4条

检测项：输入负向阈值电压检测样品：电子元器件标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.5条

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：栅源阈值电压（VGS(th)）检测样品：场效应管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

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