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检测项:输出短路电流 检测样品:数字集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
机构所在地:上海市
检测项:浪涌冲击试验 检测样品:电子设备用机电元件 标准:电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008
机构所在地:上海市
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分 SJ 2215-8
机构所在地:湖北省宜昌市