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检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分 SJ 2215-8
机构所在地:湖北省宜昌市
检测项:电压波动和闪烁 检测样品:电气设备(电磁兼容) 标准:对额定电流≤16A的设备在低压供电系统产生的电压波动和闪烁的限制
检测项:谐波 检测样品:电气设备(电磁兼容) 标准:低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项:谐波 检测样品:电气设备(电磁兼容) 标准:低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流≤75A)
机构所在地:上海市
检测项:输出电流限制性能试验 检测样品:通信电源设备 标准:通信用电源设备通用试验方法 GB/T16821-2007
检测项:短路电压 检测样品:电力变压器、电源装置和类似产品 标准:电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第1部分:通用要求和试验 GB19212.1-2008 IEC61558-1:2005
机构所在地:四川省成都市
机构所在地:重庆市
检测项:电压变化、电压波动和闪烁 检测样品:电子和电气设备 标准:电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A 且无条件接入的设备在公用低压供电 系统中产生的电压变化、电压波动 和闪烁的限制
机构所在地:天津市