官方微信
您当前的位置：首页 > 限幅电平
检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电能表 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/IEC 62052-11:2003 ③ 多功能
检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电力用户用电信息采集系统 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 电能信息采集与管理系统 第3-1部分：电能信息采集终端技术规范—通用要求 DL/T 698.31-2010 ③ 电力用户用电信息采集系统
检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电能表 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/IEC 62052-11:2003 ③ 多功能电能
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010+A12:2011 UL60950-1:2003
检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010+A12:2011 UL60950-1:2003 U
检测项：2.10电气间隙、爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 UL60950-1:2003 UL60950-1:2007 AS/NZS 60950.1:2003 CAN/CSA-C22.2 No.60950-1:2003 CAN/CS
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：爬电距离、电气间隙和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 IEC 60950-1-2005 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 EN60950-1：2006
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011 IEC 60950-1:2005+A1: 2009
检测项：危险的防护 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 IEC 60950-1:2005 + A1: 2009 + A2: 2013 EN 60950-1:2006+A2:2013 AS/NZS 60950.1:2011 + A1:2012 GB4943.1-2011
