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检测项:静态功耗 检测样品:时基电路 标准:《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992
检测项:功能测试 检测样品:TTL集成电路 标准:《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》GB/T17574-1998
检测项:输出高电平电流 检测样品:TTL集成电路 标准:《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》GB/T17574-1998
机构所在地:江苏省扬州市
检测项:粘连性 检测样品:塑料制品 标准:塑料薄膜及薄板的静态和动态摩擦系数的测试方法 ASTM D1894 - 11ε1
机构所在地:北京市