常见异物分析方法、步骤与案例_检测资讯

常见异物分析方法、步骤与案例

嘉峪检测网 2021-11-26 12:25

异物分析是专门分析产品上的微小嵌入异物或表面污染物、析出物进行之成分的技术。例如对表面嵌入异物、斑点、油状物、喷霜等异常物质进行定性分析，藉此找寻污染源或配方不相容者是改善产品最常用的分析方法之一。

异物分析技术通常应用于以下情况，刚刚生产出来的产品有一些黑点等异常缺陷或油污等表面污染或者在经过一段时间的贮存、运输等环节突然出现一些微小的斑点、油状物粉状物等异物，此时就急需异物分析的方法可以分析出这些异物属是什么物质进而寻找污染源或者污染环节进行排除改善配方体系，改善产品质量。因异物的生成情况多种多样很多异物可能对产品有决定性的破坏意义甚至威胁到生产和人身安全因此异物分析主要是为了保障生产稳定性而存在。常见的异物分析案例有 PCB板上的助焊剂残留、金属件的表面氧化物、 PVC线皮析出的物质、螺母的表面油污、塑胶制品中夹杂的白色颗粒、镜头上的异物，显示屏上的外来物等。

常见异物分析步骤

仪器名称	信号检测	元素测定	检测限	深度分辨率	适用范围	参考标准
扫描电子显微镜（SEM）	二次及背向散射电子&X射线	B-U (EDS mode)	0.1 - 1 at%	0.5 - 3 µm (EDS)	高辨析率成像元素微观分析及颗粒特征化描述	JY/T 010-1996GB/T 17359-2012
X射线能谱仪（EDS）	二次背向散射电子&X射线	B-U	0.1 – 1 at%	0.5 – 3 μm	小面积上的成像与元素组成；缺陷处元素的识别/绘图；颗粒分析（>300nm）
显微红外显微镜（FTIR）	红外线吸收	分子群	0.1 - 1 wt%	0.1 - 2.5 µm	污染物分析中识别有机化合物的分子结构识别有机颗粒、粉末、薄膜及液体	GB/T 6040-2002
拉曼光谱（Raman）	拉曼散射	化学及分子键联资料	>=1 wt%	共焦模式	为污染物分析、材料分类以及张力力测量而识别有机和无机化合物的分子结构
俄歇电子能谱仪（AES）	来自表面附近的Auger电子	Li-U	0.1-1%亚单层	20 – 200 侧面分布模式	缺陷分析；颗粒分析；表面分析；小面积深度剖面；薄膜成分分析	GB/T 26533-2011
射线光电子能谱仪（XPS）	来自表面原子附近的光电子	Li-U化学键联信息	0.01 - 1 at% sub-monolayer	20 - 200 Å（剖析模式） 10 - 100 Å (表面分析）	有机材料、无机材料、污点、残留物的表面分析	GB/T 30704-2014
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）	分子和元素种类	整个周期表，加分子种类	107 - 1010 at/cm2 sub-monolayer	1 - 3 monolayers (Static mode)	有机材料和无机材料的表面微量分析	ASTM E1078-2009ASTM E1504-2011ASTM E1829-2009