大电流注入 ( Bulk Current Injection， BCI) 法广泛用于评估多种电子设备的电磁敏感度， 包括汽车、 航空、 计算处理、 医学、 电信等设备， BCI法模拟被测设备在正常工作状态下电导体中产生的连续波的电流， 这些导体包括被评估的设备信号、 控制和电源电路。 

电流注入探头是 BCI 技术中的关键设备， 它的作用像一个多绕组或单绕组的初级线圈， 被测的线路或电路像一个次级线圈，将一定大小的电流以耦合的方式注入到受试设备中， 使之产生感应电流进行抗扰度测试。

在抗扰度测试中，要把电流注入探头的插入损耗值作为转换系数导入测试软件，由软件根据转换系数计算出 控制功率放大器的前向功率，得到最终的目标试验电平。因此，对电流注入探头的插入损耗的校准是此类抗扰度测试的第一步。

ISO 11452—4: 2011［1］在附录 A 中介绍了校准电流注入探头插入损耗的程序，但目前还没有相对应的国家校准规范对电流注入探头以及校准时所使用校准夹具的校准方法进行规范。

电流注入探头校准夹具的作用是对探头的性能进行标定，电流注入探头校准夹具能让使用户在进行抗扰度测试之前能快速简易的校准电流注入探头，所以校准夹具的传输性能会影响抗扰度试验时注入探头馈入功率的有效转换。

电流注入探头及其校准夹具的 3 个主要参数分别是: 电流注入探头的插入损耗、校准夹具的插入损 耗和校准夹具两侧端口的电压驻波比。

(1) 电流注入探头插入损耗是将电流注入探头安装在与其相匹配的校准夹具中，并将校准夹具一侧的输入端口用 50Ω 电阻端接时，校准夹具输出端口电压与电流注入探头输入口电压的比值。

(2) 校准夹具的插入损耗是校准夹具输出端口电压与输入端口电压的比值，分为夹具上无探头和夹具上放置探头两种情况的插入损耗。校准夹具插入电流注入探头后， 会增加校准夹具的插入损耗， 增加值不得超过 1. 6 dB。

(3) 校准夹具两侧端口的电压驻波比是校准夹具两竖板间同轴结构在驻波图形上电压最大值与电压最小值之比值。校准夹具竖板的作用是固定夹具两边的圆柱凸台，连接底板和顶板，形成外导体回路。

典型的 BCI 校准设置

1） 20dB 衰减器 10 W （>100 mA）

2） 150Ω 至 50Ω BCI 阻抗适配器

3） BCICF-6-150 校准夹具

4） FCC F-120-9A 注射探头

5） 50 Ω端接负载

其中我司提供在校准IEC 61000-4-6大电流注入测试期间所需的适配器。包括的零件：

HNA 721-100：150 欧姆至 50 欧姆适配器（N 型）

HNA 721-150：150 欧姆终端（N 型）