您当前的位置:检测资讯 > 实验管理

电子产品可靠性试验

嘉峪检测网        2015-11-29 09:38

电子产品可靠性试验
第一章 可靠性试验概述
1、电子产品可靠性试验的目的可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。具体目的有:
(1) 发现产品的设计、元器件、零部件、原材料和工艺等方面的各种缺陷;
(2) 为改善产品的完好性、提高任务成功性、减少维修人力费用和保障费用提供信息;
(3)确认是否符合可靠性定量要求。为实现上述目的,根据情况可进行实验室试验或现场试验。实验室试验是通过一定方式的模拟试验,试验剖面要尽量符合使用的环境剖面,但不受场地的制约,可在产品研制、开发、生产、使用的各个阶段进行。具有环境应力的典型性、数据测量的准确性、记录的完整性等特点。通过试验可以不断地加深对产品可靠性的认识,并可为改进产品可靠性提供依据和验证。现场试验是产品在使用现场的试验,试验剖面真实但不受控,因而不具有典型性。因此,必须记录分析现场的环境条件、测量、故障、维修等因素的影响,即便如此,要从现场试验中获得及时的可靠性评价信息仍然困难,除非用若干台设备置于现场使用直至用坏,忠实记录故障信息后才有可能确切地评价其可靠性。当系统规模庞大、在实验室难以进行试验时,则样机及小批产品的现场可靠性试验有重要意义。
 
2、可靠性试验的分类
2.1电子装备寿命期的失效分布
目前我们认为电子装备寿命期的典型失效分布符合“浴盆曲线”,可以划分为三段:早期失效段、恒定(随机或偶然)失效段、耗损失效段。可参阅图1.2.1。
早期失效段,也称早期故障阶段。早期失效出现在产品寿命的较早时期,产品装配完成即进入早期失效期,其特点是故障率较高,且随工作时间的增加迅速下降。早期故障主要是由于制造工艺缺陷和设计缺陷暴露产生,例如原材料缺陷引起绝缘不良,焊接缺陷引起虚焊,装配和调整不当引起参数漂移,元器件缺陷引起性能失效等。早期失效可通过加强原材料和元器件的检验、工艺检验、不同级别的环境应力筛选等严格的质量管理措施加以暴露和排除。恒定失效段,也称偶然失效段,其故障由装备内部元器件、零部件的随机性失效引起,其特点是故障率低,比较稳定,因此是装备主要工作时段。耗损失效段,其特点是故障率迅速上升,导致维修费用剧增,因而报废。其故障原因主要是结构件、元器件的磨损、疲劳、老化、损耗等引起。
2.2试验类型及其分布
曲线的变化针对电子装备寿命期失效分布的三个阶段,人们在设计制造和使用装备时便有针对地采取措施,以提高可靠性和降低寿命周期的费用。在设计制造阶段,要尽量减少设计缺陷和制造缺陷,即便如此仍然会存在早期失效和随机失效。为此,承制方需要运用工程试验的手段来暴露和消除早期失效,降低随机失效的固有水平。通过这些措施,可以改变产品的寿命分布曲线的形状,可参阅图 1.2.2。在耗损阶段,用户可通过维修和局部更新的手段延长装备的使用寿命。图 1.2.2示意了两组产品寿命失效率分布曲线,图中表明产品B的可靠性水平比产品A的优良,因为B的恒定失效率比A的低,B的早期失效段比A的短。如果曲线A和B是同一种产品的不同阶段的失效率分布,则表明该产品经过了可靠性增长试验,取得成效,因此曲线B的恒定失效率大为降低。曲线B的早期失效段示意了B和B’两条,它们表明B比B’的早期失效率为低,显示其工艺和元器件、原材料的缺陷比B’的少,环境应力筛选所需的资源也可较少。
 
2.3 装备可靠性试验分类
2.3.1 装备可靠性试验项目分类由装备可靠性试验的目的出发,我们把它分为可靠性工程试验和可靠性验证试验两大类,每类试验又包括几种试验项目。
(1)可靠性工程试验,其目的在于暴露产品故障以便人们消除它,由承制方进行,试验样品从研制样机中取得。可靠性工程试验包括环境应力筛选和可靠性增长试验。从试验性质来分析,现行的老炼也属于工程试验项目;由环境应力筛选发展起来的可靠性保证试验也可归纳于此。工程试验的出发点是:尽量彻底地暴露产品的问题、缺陷,并采取措施纠正,再验证问题得到解决、缺陷得到消除与否。经过工程试验的产品,其可靠性自然会提高,满足用户要求的可能性也必然增大。可见,可靠性工程试验是产品的可靠性基础工作,是产品研制生产的工艺过程。
(2)可靠性验证试验,从试验原理来说,要应用统计抽样理论,因此又称统计试验。其目的是为了验证产品是否符合规定的可靠性要求,由承制方根据有关标准和研制生产进度制订方案和计划,经定购方认可;重点型号装备的验证试验方案还需报上级领导机关批准,由有关各方组织联合试验小组。验证试验包括产品研制的可靠性鉴定试验和批量生产的可靠性验收试验。这类试验必须能够反映装备的可靠性定量水平,因此试验条件要尽量接近使用的环境应力;试验结果要作出接收或拒收的判断,因此对试验时间和发生的故障应作详细记录,经过与失效判据的对比分析后,试验各方统一认识后才能作出最后的结论。
2.3.2 装备可靠性试验项目的区别产品研制生产过程除进行可靠性试验之外,一般还要进行环境(鉴定)试验,各种试验的目的不同,不能相互取代,它们的区别可参阅表1-2-1。
3试验安排在安排试验计划时,应将可靠性试验与性能试验、环境应力和耐久性试验尽可能地结合起来,构成比较全面的可靠性综合试验计划。这样可避免重复试验,保证不漏掉在单独试验中易疏忽的问题和缺陷,可提高效率节省费用。
(1)产品的性能试验应在样机制造出来后即进行,试验暴露的缺陷应成为改进措施的直接依据。评定产品性能和可靠性是否满足用户要求,必须在标准环境条件下使用规定容限值进行性能测量,以获得重现结果和所需的精度。要分别测量记录试验前(标准条件)、试验中(试验条件)、试验后(标准条件)的性能,以便进行比较。
(2)环境应力的种类要按照实际情况进行综合。环境应力至少应包括热、振动、潮湿等应力;温度循环中的湿度等级应足以产生明显的冷凝和霜冻;振动应力应考虑振动类型、频率范围、应力大小和使用方法及振动方位等因素。这一切应能类似于现场使用环境和任务剖面所产生的情况。
(3) 耐久性试验一般包括环境试验、过负荷试验、模拟或接近环境剖面的循环试验。试验中发生的问题都要作出分析并采取纠正措施。然后对改进后的产品再作试验,以证明问题是否已经解决。
 
4 试验评估
4.1试验条件的评估
试验条件和步骤、方法都要尽可能模拟产品的寿命剖面和任务剖面,使试验具有真实性。试验的目的是暴露在使用环境下才能发生的问题、故障和缺陷。如果试验只能暴露一部分问题,这是在浪费时间和资源。试验模拟的程度,取决于试验目的。
(1) 试验真实性不高的原因可能是忽视了某些应力。如接插件作静态寿命试验时忽略了振动应力,致使现场使用时故障频繁。
(2)暴露缺陷的试验,施加的应力高于使用应力也是合适的。“过应力”试验一般用于工程可靠性试验,如老炼试验、筛选、研制阶段的可靠性增长试验等。这些属于加速试验特性,可尽早暴露产品潜藏的薄弱环节,采取措施纠正之。
(3)模拟寿命剖面的试验,希望试验得到的可靠性与使用中的可靠性相一致。然而模拟的条件与使用的真实条件总是有差异的。在多数情况下,用恒定应力条件作寿命试验,效果不好。因此要设计综合应力的循环周期的试验剖面,使之比较接近使用条件。
4.2装备可靠性评估测定产品可靠性定量指标,提供各种信息,作出产品的可靠性评估,是管理工作所要求的。可靠性指标的点估计值和置信区间估计,是产、购双方对产品寿命期费用决策的重要信息。可靠性指标的点估计值和置信区间估计的依据是试验数据。试验数据的具体处理方法在有关标准中规定。只凭试验结果就对装备的可靠性水平进行评估,信息量可能不够,往往要结合制造和使用的其它信息进行综合评价,才能使用户放心。
5试验管理从研制生产到交付部队使用,要进行多项与可靠性有关的试验。为了确保达到用户提出的要求,遵守交付周期,节省资源,加强管理是十分必要的。试验管理的目的是为了提高试验成效、确保产品可靠性大纲的效果,管理的任务主要是制订和落实试验计划,因此要多安排综合试验,常用的方法是组织、协调、督促。试验管理工作要围绕研制生产的产品确定试验项目、明确在何时进行、由何部门组织哪些人参加和实施、采用何种试验手段、试验方案和计划由谁制订和批准,试验情况的记录和处置,试验结果的处理等。综合的可靠性试验计划一般包括以下内容:
(1) 确定装备的可靠性要求;
(2) 规定可靠性试验的应力条件;
(3) 规定试验进度计划;
(4) 详细的可靠性试验方案;
(5) 试验操作程序;
(6) 受试产品的说明和性能监测要求;
(7) 试验设备和监测仪器;
(8) 试验记录和试验数据的处理方法;
(9)试验报告的内容。
试验管理除了计划管理之外,还包括试验费用的管理,为保证研制工作进度和避免追加费用,试验工作的重点应放在工程试验上。综合了较多试验内容的计划,还应包括每项试验的方案、决策风险、试验条件、试验程序、在寿命周期的计划等。
 
 
第二章 环境应力筛选
1 环境应力筛选的目的和原理
1.1 环境应力筛选的目的
环境应力筛选的目的在于发现和排除产品的早期失效,使其在出厂时便进入随机失效阶段,以固有的可靠性水平交付用户使用。
1.2环境应力筛选的原理环境应力筛选是通过向电子装备施加合理的环境应力和电应力,将其内部的潜在缺陷加速变成故障,以便人们发现并排除。环境应力筛选是装备研制生产的一种工艺手段,筛选效果取决于施加的环境应力、电应力水平和检测仪表的能力。施加应力的大小决定了能否将潜在的缺陷在预定时间内加速变为故障;检测能力的大小决定了能否将已被应力加速变成故障的潜在缺陷找出来,以便加以排除。因此,环境应力筛选又可看作是产品质量控制检查和测试过程的延伸。
2 缺陷分类
2.1通用定义产品丧失规定的功能称失效。对可修复产品通常也称为故障。对设备而言,任一质量特征不符合规定的技术标准即构成缺陷。绝大多数电子装备的失效都称为故障,以故障原因对其进行分解可以参阅图2.1.1。从图中可知,装备故障分为偶然失效型故障和缺陷型故障两大类。人们认为偶然故障表现为随机失效,是由元器件、零部件固有失效率引起的;而缺陷型故障由原材料缺陷、元器件缺陷、装配工艺缺陷、设计缺陷引起,元器件缺陷本身又由结构、工艺、材料等缺陷造成,设计缺陷则包含电路设计缺陷、结构设计缺陷、工艺设计缺陷等内容。
2.2 电子设备可视缺陷分类
按照GJB2082《电子设备可视缺陷和机械缺陷分类》,从影响与后果方面缺陷分为致命缺陷、重缺陷、轻缺陷;从可视的角度来看,产生缺陷的主要工艺类型有:焊接、无焊连接、电线与电缆、多余物、防短路间隙、接点、印制电路板、零件制造安装、元器件、缠绕、标记等,其中多数都可能产生致命缺陷或重缺陷,轻缺陷比较普遍。致命缺陷是指对设备的使用、维修、运输、保管等人员会造成危害或不安全的缺陷,或可能妨碍某些重要装备(如舰艇、坦克、大型火炮、飞机、导弹等)的战术性能的缺陷。重缺陷是指有可能造成故障或严重降低设备使用性能,但又不构成致命缺陷的缺陷。轻缺陷是指不构成重缺陷,但会降低设备使用性能或不符合规定的技术标准,而对设备的使用或操作影响不大的缺陷。可视缺陷是指通过人的视觉器官可直接观察到的,或采用简单工具对设备质量特征所能判定的缺陷。承制单位的质量检验人员对大多数可视缺陷都可以发现并交有关部门排除,唯有不可视缺陷需要进行环境应力筛选或其它方法才能被发现,否则影响产品可靠性。
3 筛选应力及其效应表达式
3.1常规筛选与定量筛选常规筛选是指不要求筛选结果与产品可靠性目标和成本阈值建立定量关系的筛选。筛选方法是凭经验确定的,筛选中不估计产品引入的缺陷数量,也不知道所用应力强度和检测效率的定量值,对筛选效果好坏和费用是否合理不作定量分析,仅以能筛选出早期失效为目标。筛选后的产品不一定到达其故障率恒定的阶段。定量筛选是要求筛选的结果与产品的可靠性目标和成本阈值建立定量关系的筛选。定量筛选有关的主要变量是引入缺陷密度、筛选检出度、析出量或残留缺陷密度。引入缺陷密度取决于制造过程中从元器件和制造工艺两个方面引进到产品中的潜在缺陷数量;筛选检出度取决于筛选的应力把引入的潜在缺陷加速发展成为故障的能力和所用的检测仪表把这些故障检出的能力;残留缺陷密度和缺陷析出量则取决于引入缺陷密度和筛选检出度。定量环境应力筛选关系式如下 DR=DIN—F =DIN(1—TS) (2-3-1) TS=SS×DE (2-3-2) 式中:DR——残留缺陷密度,平均个/产品; DIN ——装备引入的缺陷密度,平均个/产品; F——境应力筛选析出的缺陷量,平均个/产品; TS——筛选检出度; SS——筛选度; DE——检测效率。在进行定量筛选之前,首先要按照可靠性要求确定残留缺陷密度的目标值DRG,然后通过适当地选择筛选应力种类及其量值的大小、检测方法、筛选所在等级等参数设计筛选大纲。实施此大纲时,要进行监测和评估,确定DIN、SS、DR的观察值,并与设计估计值比较,以便及时采取措施保证实现定量筛选目标,并使之最经济有效。定量环境应力筛选的控制过程请参阅图2.3.2。
3.2 恒定高温应力
3.2.1 参数的计算
3.2.1.1 筛选度计算
3.2.2 筛选故障率计算
恒定高温筛选时缺陷的故障率表达式如下:
3.2.3恒定高温应力激发的故障模式或影响恒定高温能激发的故障模式(或对产品的影响)主要有:使未加防护的金属表面氧化,导致接触不良或机械卡死,在螺钉连接操作时用力不当或保护涂层上有小孔和裂纹都会出现这种未防护的表面。加速金属之间的扩散,如基体金属与外包金属,钎焊焊料与元件,以及隔离层薄弱的半导体与喷镀金属之间的扩散;使液体干涸,如电解电容和电池因高温造成泄漏而干涸;使热塑料软化,如该热塑料件处于太高的机械力作用下,则产生蠕变;使某些保护性化合物与灌封蜡软化或蠕变;提高化学反应速度,加速与内部污染物的反应过程;使部分绝缘损坏处绝缘击穿。
3.3 温度循环应力
3.3.1 温度循环应力参数
温度循环应力参数有:上限温度、下限温度、循环次数、温度变化速率。
3.3.2 温度循环应力筛选度计算
3.3.3 温度循环应力故障率计算
3.3.4温度循环应力激发的故障模式或影响使涂层、材料或线头上各种微细裂纹扩大;使粘接不好的接头松驰;使螺钉连接或铆接不当的接头松驰;使机械张力不足的压配接头松驰;使质量差的焊点接触电阻加大或开路;粒子污染;密封失效。
3.4 扫频正弦振动应力
3.4.1 扫频正弦振动应力的筛选度计算
3.4.2 扫频正弦振动应力的故障率 3.4.3 扫频正弦振动应力激发的故障模式或影响使结构部件、引线或元器件接头产生疲劳,特别是导线上有微裂纹或类似缺陷的情况下;使电缆磨损,如在松驰的电缆结处存在尖缘似的缺陷时;使制造不当的螺钉接头松驰;使安装加工不当的IC离开插座;使受到高压力的汇流条与电路板的钎焊接头的薄弱点故障;使未充分消除应力的可作相对运动的桥形连接的元器件引线造成损坏,例如电路板前板的发光二极管或背板散热板上的功率晶体管;已受损或安装不当的脆性绝缘材料出现裂纹。
3.5 随机振动应力
3.5.1 随机振动应力的参数
随机振动应力的参数有:频率范围、加速度功率谱密度(PSD)、振动时间、振动轴向数。其振动谱可参阅图2.3.3。
3.5.2 随机振动应力筛选度
3.5.3 随机振动应力故障率计算随机振动应力的故障率计算式如下:
3.5.4随机振动应力激发的故障模式或影响
随机振动应力激发的故障模式或影响与正弦扫频振动应力相同,但故障机理更复杂,发展故障的速度要比扫频正弦振动应力快得多,这是由于随机振动能同时激励许多共振点的作用结果。
3.6 筛选效果对比
3.6.1 温度应力对比
a)对恒定高温应力的分析恒定高温筛选的筛选度与温度增量、筛选时间密切相关,但其量值很小,由表2-3-1查得当温度增量为最大(80℃)、老炼筛选时间最长(200h)时,筛选度为0.9912。恒定高温的故障率只与温度增量有关,其值也很小,同样从表2-3-1查得温度增量最大(80℃)时故障率为平均0.0237次/h。即为了暴露1个缺陷,用温度增量为80℃的恒定高温进行筛选平均需要42个小时。如果按有些产品以45℃(温度增量为20℃)高温进行老炼筛选的话,其故障率为0.0104次/h,需要平均老炼100小时才能暴露1个缺陷。因此可见,为了达到消除早期失效的目的,用恒定高温的老炼筛选时间要很长,不仅筛选效率低下,而且有可能要影响产品的使用寿命。故障率低和可能影响产品的使用寿命是恒定高温筛选应力的致命缺点。
b)对温度循环应力的分析温度循环应力的筛选度与温度范围、循环次数有关,并且与温度变化速率关系最密切,即温度升降速率越大,其筛选度也越大。由表2-3-2可查得温度范围为180℃、循环次数为4、温度变化速率为20℃/min时,筛选度为0.9907。归一化后其故障率与温度变化范围和温度变化速率成正相关。由表2-3-3可查得,当温度变化范围为80℃、温度变化速率为5℃/min时温度循环应力的故障率平均为0.2020次/循环,一般每个循环时间在3.5~4.0小时之间,因此该应力的故障率相当于平均 0.0505次/h~0.0577次/h之间。因此,故障率高、筛选效率高、不会影响产品使用寿命是温度循环应力的特点。
c)温度应力的比较由上分析可知,温度变化范围为80℃、温度变化速率为5℃/min的温度循环应力的故障率是温度增量为80℃的恒定高温应力的2倍多(0.0505与0.0237之比)。而且在工程上要实现前者比后者容易得多。温度增量为80℃的恒定高温应力要让产品经受105℃(80+25)高温的相当长时间的工作过程,平均42小时才能暴露1个故障。而温度循环应力,通常采用温度交变试验箱,此类设备对温度范围为80℃(由-35℃变化到+45℃)、温变速率为5℃/min的性能参数是最低的要求,轻易便可实现,此应力可使产品平均筛选20小时便可以暴露1个故障,比恒定高温应力的筛选效率高很多。为了进一步提高温度循环应力的筛选效率,可以通过提高温度变化率的应力参数来实现。由表 2-3-2可知,当温度范围仍为80℃、温度变化速率由5℃/min提高到20℃/min时,其故障率由平均 0.2020次/循环提高到平均0.7212次/循环,后者是前者的3.5倍多,即平均5个小时便可以暴露1个缺陷。当然,温度交变试验箱要实现20℃/min的温变速率,需要大幅度地增加升降温系统的功率,甚至要在机械致冷的基础上加装液态氮致冷系统及其控制装置。这需要增加投入。为了提高筛选效率、减少筛选对产品寿命的影响,提高温变速率是最好的方法,为此而增加投入也是适宜的。
3.6.2振动应力对比
一般说来,振动应力是定量环境应力筛选方法才采用的应力,它可以暴露温度循环暴露不了的某些缺陷。据统计,对电子设备而言,温度应力平均可以暴露79%的缺陷,而振动应力平均可以暴露21%的缺陷。因此,振动是不可缺少的筛选应力。扫频正弦振动台和随机振动台都可以作为振动环境应力筛选的设备,但由表2-3-4和表2-3-5的数据可以比较它们的故障率(即筛选效率)。我们按照GJB 1032《电子产品环境应力筛选》标准要求的典型的随机振动谱(见图2.3.3)算得其加速度均方根值为7.2g,取为7g;设持续时间为5min,查表2-3-5得筛选度为0.478、故障率为 7.692次/小时。同样设扫频正弦振动的加速度为7g、持续时间为5min,查表2-3-4可得筛选度为 0.0193、故障率为0.2339次/小时。两种振动应力的故障率相差甚大,随机振动是扫频振动的33 倍!几种应力的筛选度和故障率的对比见表2-3-6。
3.6.3 结论
a)经典的老炼工艺与常规的恒温筛选对暴露产品的缺陷有一定的作用,但其筛选度和故障率数值很小,效率十分低,需要用相当长的时间才能达到消除早期失效(缺陷)的效果,因而可能会影响产品的使用寿命,有必要改用定量环境应力筛选方法。
b) 如果采用常温考机的办法作为产品出厂的依据,在几百小时内暴露不了一个缺陷,也说明不了产品的可靠性有什么样的水平,此法意义不大。
c)定量环境应力筛选,需要采用温度循环应力,其效率已比恒定高温老炼筛选大为提高;就温度循环筛选而言,提高温变速率又是进一步提高筛选效率、减少筛选对产品使用寿命影响的最佳方法,我们要为此项筛选创造条件。
d)定量环境应力筛选,需要采用振动应力,其中又可以采用扫频正弦振动或随机振动方式,但从筛选效率对比可知,随机振动方式是最佳的应力。为了提高筛选效率、减少振动应力筛选对产品结构件寿命的影响,应创造条件采用随机振动方式。
 
4. 环境应力筛选方案设计
4.1设计原则
环境应力筛选试验方案的设计原则是:使筛选应力能激发出由于潜在设计缺陷、制造缺陷、元器件缺陷引起的故障;所施加的应力不必模拟产品规定的寿命剖面、任务剖面、环境剖面;在试验 中,应模拟设计规定的各种工作模式。根据条件和是否必要来确定常规筛选或是定量筛选;根据不同阶段和产品的特征制订筛选方案。
4.1.1研制阶段的筛选研制阶段一般按照经验得到的筛选方法进行常规筛选.,其主要作用是:一方面用于收集产品中可能存在的缺陷类型、数量及筛选方法效果等信息;另一方面,在可靠性增长和工程研制试验前进行了常规试验,可节省试验时间和资金;同时利于设计成熟快捷的研制试验方法。研制阶段的常规筛选要为生产阶段的定量筛选收集数据,为定量筛选作准备,设计定量筛选的大纲。
4.1.2生产阶段的筛选生产阶段的筛选主要是实施研制阶段设计的定量筛选大纲;并通过记录缺陷析出量和设计估计值的比较,提出调整筛选和制造工艺的措施;参考结构和成熟度相似产品的定量筛选经验数据,完善或重新制订定量筛选大纲。这些经验数据主要有:故障率高的元器件和组件型号;故障率高的产品供货方;元器件接收检验、测试和筛选的数据;以往筛选和测试的记录;可靠性增长试验记录;其它试验记录。
4.2 设计依据
4.2.1 依据产品缺陷确定筛选应力
4.2..1.1影响产品缺陷数量的因素如前所述,产品在设计和制造过程引入的缺陷主要是:设计缺陷、工艺缺陷、元器件缺陷。这些缺陷可归纳为两种类型,
一是固有缺陷,它是存在于产品内部的缺陷,如材料缺陷、外购元器(部)件缺陷和设计缺陷;
二是诱发缺陷,它是人们在生产或修理过程中引入的缺陷,如虚焊、连接不良等。这些缺陷的可视缺陷或用常规检测手段便可发现缺陷,可在生产中被排除;除此之外的缺陷便成为潜在缺陷,构成装备的早期故障根源。装备的早期故障一般要经过100小时以内的工作才能暴露,从而被排除。影响产品缺陷数量的主要因素有:产品的复杂程度。产品越复杂,包含的元器件类型和数量越多、接头类型和数量越多,则设计和装焊的难度越大,设计制造中引入缺陷的可能性越大。同时也增加环境防护设计的难度。元器件质量水平。元器件质量水平是装备缺陷的主要来源,元器件质量水平包括质量等级和缺陷率指标两个方面,后者用PPM表示,一般生产厂要在说明书中表示。这是定量筛选方案设计的重要依据。组装密度。组装密度高,元器件排列拥挤,装焊操作难度大,易碰伤元器件,工作中散热条件差,易引入工艺缺陷和使缺陷加速扩大。设计和工艺成熟程度。设计和工艺的成熟程度的提高,可以大大地减少产品的设计缺陷和工艺缺陷的种类及其数量。一般,在研制阶段,在结构设计定型之前,设计缺陷占主导地位;在生产阶段,设计缺陷减少,元器件缺陷和工艺缺陷比例增加,并且随着设计的改进和工艺的不断成熟,元器件缺陷将占主导地位。制造过程控制。制造过程控制主要是质量控制,包括采用先进的工艺质量控制标准和管理制度,管理控制得越严格,引入缺陷的机会就越少。
4.2.1.2环境应力对缺陷的影响现场环境应力是影响缺陷发展成故障的主要因素。任何缺陷发展成为故障都需要受到一定强度应力经过一定时间的作用,产品只有受到能产生等于或大于阈值的环境应力才能使某些缺陷变为故障;在某些温和的环境应力中,许多缺陷不会发展为故障。因此,只有选择能暴露某些缺陷的应力作为筛选的条件,才能达到筛选的目的。常用的应力所能发现的典型缺陷见表2-4-1。据统计,温度应力可筛选出80%的缺陷,振动应力可筛选出20%左右的缺陷。
....
第三章 可靠性增长试验
1 概述
1.1基本概念
众所周知,装备的可靠性是由设计决定的。但是,由于受到各种原因的影响,设计缺陷总是难免的,产品在研制阶段往往达不到用户的可靠性要求,因此必须开展可靠性增长活动。
必须指出,可靠性增长活动不是针对设计低劣的产品的,而是针对经过认真设计仍然由于某些技术原因达不到要求的产品,而且可靠性增长活动比可靠性设计活动所需的资源和时间都多,因此,管理者往往只对通过可靠性设计评审的产品才安排可靠性增长计划。那种把可靠性水平寄托在增长活动上的态度是错误的。可靠性增长的核心是消除影响产品可靠性水平的设计缺陷。可靠性增长的关键是发现影响产品可靠性水平的设计缺陷。
为此,必须通过试验或运行的途径来实现产品故障机理的检测。常见的可靠性增长有,一般性的可靠性增长和可靠性增长管理。一般性的可靠性增长,是指事前未给出明确的可靠性增长目标,对产品在试验或运行中发生的故障,根据可用于可靠性增长资源的多少,选择其中的一部分或全部实施纠正措施,以使产品可靠性得到确实提高的过程;它通常不制定计划增长曲线,也不跟踪增长过程,而是采用一两次集中纠正故障的方式,使产品可靠性得到提高。由于增长过程通常不能满足增长模型的限度条件,增长后的产品可靠性水平需要通过可靠性验证试验才能进行定量评估。可靠性增长管理,是指有计划有目标的可靠性增长工作项目,并非可靠性增长过程中的管理工作。它是产品寿命期内的一项全局性的、为达到预期的可靠性指标、对时间和资源进行系统安排、在估计值和计划值比较的基础上依靠新分配资源、对实际增长率进行控制的可靠性增长项目。
可靠性增长管理有两个特点:
a) 有一个逐步提高的可靠性增长目标: 可靠性增长管理主要针对大型军事装备,把可靠性增长工作从工程研制阶段延伸到生产阶段或使用阶段,在阶段的转接处和阶段内部划分的小阶段的进出口处设定可靠性增长目标,形成逐步提高的系列目标。这就促使有关部门实施严格管理和为降低风险提供手段。
b) 充分利用产品寿命期内的各项试验和运行记录: 除了可靠性试验之外,在产品寿命期内还有其它各种试验以及运行过程都可能产生故障信息,可以用于可靠性增长的故障机理检测,经过风险权衡后把其中的一部分纳入可靠性增长管理的范围,形成可靠性增长的整体,使产品可靠性逐步增长到预期目标。可靠性增长活动是一个连续完整的闭环控制过程。在此环中,首要任务是发现产品的设计缺陷 ——这主要是从试验、使用中发生的故障中发现;然后是对故障进行分析——重点研究重复性故障和关键故障发生的原因,当认定为设计缺陷后提出纠正这些设计缺陷的措施;接着是实施纠正措施 ——将修改设计的措施在少数产品(试验样品)上实施,并通过试验验证纠正措施的有效性;最后是修改技术文件和把纠正措施推广到同型号产品中去——这是落实可靠性增长活动的重要工作,是发挥可靠性增长试验效益的关键步骤。可靠性增长活动可以在工程研制阶段、生产阶段进行,甚至在使用阶段进行。按照有关标准的规定只在装备研制阶段才进行可靠性增长试验和增长工作,但从我国的实际情况出发,有不少已经装备部队多年的产品仍然对其进行可靠性增长试验和“可靠性补课工作”,并取得了显著成绩。这就是说,要根据产品的技术状况和可靠性水平去决定何时以何种形式开展可靠性增长活动。可靠性增长试验是可靠性增长活动的主要内容,是产品工程研制阶段单独安排的可靠性工作项目,成为工程研制阶段的组成部分。可靠性增长试验通常安排在工程研制基本完成之后和可靠性鉴定试验之前进行。此时,产品的性能与功能已经基本达到设计要求,产品结构与布局已经接近批生产的要求,故障信息的确实性已经较高,且此时故障纠正措施的实施所需资源和时间较少。使用阶段的可靠性增长活动可以利用产品的现场故障信息和现场使用状况记录来取代可靠性增长试验工作。
1.2 可靠性增长试验的目的
可靠性增长试验的目的是,在装备研制或生产阶段通过试验获得设计缺陷的信息,以便对其进行分析和采取纠正措施,及早解决大多数可靠性问题,提高产品可靠性水平。
1.3 可靠性增长的原理
可靠性增长试验的方法原理是,将研制生产的产品置于实际使用的环境(模拟工作环境或加速变化的环境)应力条件下经受一定时间的试验,使产品的设计缺陷暴露为故障。
1.4可靠性增长试验与环境应力筛选的对比
可靠性增长试验与环境应力筛选同为装备研制生产的可靠性工程试验,它们的目标都是为了暴露产品缺陷,但在具体任务上有明显区别,前者旨在暴露某些设计缺陷,纠正后提高产品固有可靠性水平;后者旨在暴露工艺和元器件、原材料的缺陷,消除产品潜在的早期失效,并非为了提高产品的固有可靠性水平。表3-1-1列出了它们的主要对比项目。
1.5可靠性增长试验与可靠性鉴定试验的关系
可靠性鉴定试验是可靠性统计试验工作项目,它作为产品在工程研制阶段的全部可靠性工作成果的考核,可以判定产品可靠性是否达到了预期的目标。可靠性增长和可靠性增长管理虽然可以帮助人们了解产品的可靠性水平,并不能取代可靠性鉴定试验,因此可靠性鉴定试验仍然要作为重要工作项目列入可靠性大纲。只有当可靠性增长试验成功、满足以下条件,并能用数理统计方法对产品可靠性进行评估时,经过定购方的许可,才可以用可靠性增长试验替代可靠性鉴定试验。
a) 可靠性增长的试验剖面与可靠性鉴定试验规定的试验剖面相同;
b) 可靠性增长试验记录完整,试验过程跟踪严格;
c) 有完善的故障报告、分析和纠正闭环系统,故障纠正过程有可追溯的详细记录;
d) 可靠性增长试验结果的评估是可信的,即评估所用的数学方法恰当,置信水平选取符合要求,产品可靠性评估结果高于或等于计划的可靠性增长目标。
2 可靠性增长计划
2.1 制定可靠性增长计划的原则装备承制单位在产品的研制与生产过程中,都要致力于促进产品的可靠性增长。产品可靠性的有计划增长,就是人们预期的可靠性增长,其特点是在产品研制各阶段和生产过程都设有相应的增长目标值。为此,人们必须制定一个完整的可靠性增长计划。制定可靠性增长计划的原则是,围绕可靠性增长曲线安排工作内容、进度、资源、经费等。确定产品可靠性增长曲线的方法是,根据同类产品研制所得的数据,经过分析,建立可靠性增长模型,确定其可靠性增长试验的时间长度;同时根据产品的可靠性指标,作为点估计值拟定可靠性增长曲线;据此安排试验项目、时间起点、预定的可靠性增长率等。
2.2 可靠性增长计划的主要内容
a) 试验的目的和要求; b) 受试产品及其应进行的试验项目; c) 试验剖面、产品技术状况、性能和循环工作周期; d) 试验进度安排; e) 试验设备和装置的说明及要求; f) 用于改进设计所需要的资源和时间要求; g) 试验数据的收集和记录要求; h) 故障报告、分析和纠正措施; i) 试验结果和产品的最后处理; j) 其它有关事项。
2.3 研制生产和使用阶段的可靠性增长如前所述,可靠性增长管理,把可靠性增长活动已经打破某些标准的规定界限,从研制阶段延伸到生产阶段,扩展到使用阶段,形成一种动态的工程过程。这既保持了有关标准规定的可靠性增长的内涵,遵循“试验——分析——改进”的规律;又灵活地运用了产品的故障信息,发挥故障审查组织和故障报告、审查与纠正措施系统的作用,使得可靠性增长活动变得生动活泼,成果日新月异。
2.3.1研制生产阶段的可靠性增长
研制与生产阶段的可靠性增长是某些标准所规定的工作项目,它必须通过试验暴露设计缺陷,才能达到增长的目标。然而,研制阶段与生产阶段的可靠性增长又有所区别:前者完全靠可靠性增长试验发现设计缺陷,完全靠改进设计来达到增长的目的;后者则可以通过环境应力筛选或老练活动暴露设计和工艺及元器件的缺陷,不仅要消除产品的早期失效,还可以消除某些设计缺陷,以此达到增长目的。
2.3.2使用阶段的可靠性增长装备使用阶段的可靠性增长,某些标准把它作为可靠性增长管理的部分工作,这主要是通过可靠性信息管理中的故障报告、分析和纠正措施系统与故障审查组织的作用去实现。其中设计缺陷由故障审查组织通过分析产品现场使用的故障信息发现;纠正措施由该组织提出,经过装备的承制单位或使用单位实施和验证后得到确认;验证信息由信息管理系统反馈后,由有关单位发出该纠正措施的技术更改通知给产品的生产单位、经销单位、使用单位等方面一并落实,至此才完成了可靠性增长的完整过程。
3可靠性增长试验的实施
可靠性增长试验的实施就是落实可靠性增长计划,要根据产品可靠性工作大纲制定试验计划,要确定试验剖面,要准备样品,准备试验设备和检测仪表及记录表格,要编制试验操作规程,准备纠正设计缺陷和排除故障所需的资源,要对参加试验的人员进行培训等等。其中主要工作如下。
3.1试验剖面的确定
可靠性增长试验的目的是暴露产品在使用状态下的问题和缺陷,因此试验剖面要模拟实际的使用环境条件。实际使用环境条件又称任务剖面。对某些产品来说,可能有多种任务剖面,此时可取其中有代表性的典型任务剖面作为可靠性增长试验的试验剖面。如果选择不到典型任务剖面,则选取环境条件最恶劣的任务剖面作为可靠性增长试验剖面,这样最有利于暴露设计缺陷。
3.2 试验记录与故障分析
3.2.1试验记录
无论在何种状况下进行可靠性增长试验,都必须对试验的全过程进行详细记录,要记录样品的技术状况和故障表现。这些资料是分析和判定设计缺陷、提出纠正措施的基本依据。记录的内容可参考有关标准导则所附的表格,以便统一可靠性增长试验和可靠性增长管理及可靠性信息系统所用的表格。
3.2.2故障分析和处理
可靠性增长试验中记录的故障,并非都是由于设计缺陷造成的,有的可能是由于早期失效或元器件的随机失效产生的。可靠性增长活动所关心的是由于设计缺陷引起的故障。为了弄清故障原因,必须进行故障分析。故障分析工作主要由直接研制产品的人员或产品总体设计人员负责。分析工作从故障表现人手,首先分辨和排除人员操作不当引发的故障,再分辨和排除元器件质量问题导致的故障,余下的故障要分析和检测是由于元器件参数使用不当(包括降额设计不到位)还是由于环境条件苛刻(包括环境防护设计、热设计、减振设计)所至,必要时要对分析结论进行验证,为正确的纠正措施提供依据。凡不需要采取纠正措施的故障,都按照通常的维修加以排除;需要采取纠正措施消除的故障则按照下一节的要求进行处理。
3.3纠正措施的确定与验证
故障分析列出了设计缺陷引起的故障和消除这些缺陷的方法,把它编写成为设计更改通知,就成为可靠性增长的纠正措施。但是必须注意,纠正措施必须优先针对那些会降低产品的作战效能、增加维修和后勤保障费用的故障。纠正措施必须先在试验样品上实施,之后对样品施加使用环境应力(即可靠性增长试验剖面)试验,验证该设计缺陷是否消除。如果仍然发生该缺陷引发的故障,则说明增长无效,需要重新分析故障原因和纠正措施,按照上述程序再来一遍,直至该缺陷被消除。当经过验证纠正措施有效,设计缺陷已经消除,此时应及时把设计更改通知上升为产品正式技术文件,并且要求其它产品也按此文件实施,做到图文一致、图文和实物一致。如果可靠性增长试验是对某些装备进行“可靠性补课”,则纠正措施要上升为技术更改通知发到已经持有该产品和正在生产该产品的单位,要求所用产品都按照此文件进行更改和生产,以受到可靠性增长的目的。
3.4 注意事项
3.4.1关于可靠性增长的数学模型
就可靠性增长的内涵而言,在制定可靠性增长试验计划之前,要根据产品可靠性目标和刚研制完成产品的可靠性估计值设计增长模型,并要作出计划曲线。目前,在可修产品的可靠性增长试验中,普遍使用杜安(Duane)模型,为使模型的适合和使最终评估结果具有较坚实的统计学依据,也用AMSAA模型作为补充。本章实例采用AMSAA模型,读者可结合实例和参考有关书籍和资料去熟悉这些数学模型。
3.4.2关于可靠性增长的试验时间
可靠性增长的总试验时间包括:把产品设计缺陷诱发为故障的时间和验证故障纠正措施是否有效的时间。因此,没有足够的试验时间是达不到预期目标的。试验时间直接关系到可靠性增长资源的需求,因此发生供需矛盾。总试验时间可以根据增长目标和增长模型进行计算,但模型中有一些参数也不是完全确定的,因此往往经验数据在起作用。工程实践经验表明,可靠性增长的总试验时间等于增长目标(Mabj)的5~25倍。在实际应用该经验关系式时,要根据产品情况决定倍数,对高可靠性目标的产品和高增长率的产品,可以选取低倍数,减少总试验时间,但可能会增大可靠性增长试验达不到预期目标的风险。此外,还必须注意,总试验时间应包括纠正措施的验证时间。
3.4.3关于试验样品
可靠性增长试验的样品,从工程研制的产品中选取。而工程研制的产品数量有限,往往要作为多种试验项目的样品来使用。因此,必须适当地安排各种试验的程序,以免拖延研制进度。按照通常的要求,试验程序是:首先进行环境应力筛选,消除工艺和元器件、原材料的缺陷,而且有利于缩短以后试验项目的试验时间;其次按照GJB 150的规定进行环境试验;最后进行任务剖面或寿命剖面的综合环境应力的可靠性增长试验或鉴定试验。 4 可靠性增长活动的管理工作
4.1建立故障信息管理系统
开展装备的可靠性增长活动必须建立故障信息管理系统,统一管理装备故障信息。承制单位一般都要建立全厂(所)的信息中心,建立产品和元器件、原材料的数据库。装备的故障信息可纳入这些数据库进行管理。故障信息管理系统必须制定严密的信息收集、发布、刷新、交接处理等规章制度。一般要求所有装配等级的产品从装配完成之后发生的所有故障都要填写故障信息表格,实时传递给信息中心;信息中心除了及时录入数据库之外,还要实时向产品技术管理部门发布,向计划管理部门和质量(可靠性)管理部门通报。
4.2建立以装备为对象的故障审查组织
承制单位信息中心收集故障数据的目的不仅仅是为了建立数据档案,为开展产品论证提供依据;更重要的是为产品的质量改进和可靠性增长提供依据。最直接应用故障信息的是产品研制生产部门。为了有针对性地应用故障信息,建立以装备型号为对象的故障审查组织是最好的办法。因为他们最了解装备的技术状况,对故障信息最敏感,对故障原因和解决办法最有发言权,因而可以用最少的资源去实现可靠性增长的目的。产品故障审查组织一般由总设计师负责,产品各有关部分的设计师参加,信息管理系统也应派员参加。该组织为非常设机构,但在可靠性增长中起着十分重要的作用。因此承制单位必须及时建立每个型号产品的故障审查组织,制定该组织的管理规章制度,并重视发挥他们的作用。
4.3纠正措施的追踪
故障纠正措施一经确立和验证,设计更改文件发出,管理者必须对已有的产品进行跟踪,直至每一部装备都落实这些纠正措施为止。落实纠正措施是扩大可靠性增长试验成果的重要步骤,其难度也很大,因为产品分布面可能很广。发挥各方面的力量,尤其要发挥用户和维修系统的作用,有可能使纠正措施得到顺利落实。
4.4验证信息的收集
当产品通过可靠性增长管理的方式进行增长时,纠正措施的验证往往是在使用现场实现的。此时验证信息需要通过管理渠道进行收集,这是需要注意的。因为信息管理系统主要收集故障数据,验证数据属于专项工作,需要进行专项管理才能做好。
4.5 可靠性增长报告
第四章 可靠性验证试验
1 概述
1.1试验目的与分类
可靠性验证试验的目的是验证产品的可靠性是否达到规定的要求。可靠性验证试验根据产品的性质分为可靠性鉴定试验和可靠性验收试验。可靠性鉴定试验是为了验证新开发产品的设计是否达到规定的最低可接收的可靠性定量要求。验收试验是对正式转入批生产产品是否达到可靠性定量要求的试验。
1.2统计概念
可靠性指标是产品性能的时间表征,是随机变量,无法用仪表检测,只有通过抽样试验或全寿命统计才能检验。产品的可靠性使用指标,也是可靠性目标值,在合同中又称规定值,试验方案中可为θ0。产品必须达到的可靠性使用指标称可靠性门限值,在合同中叫最低可接受值,试验方案中为θ 1。可靠性验证试验方案建立在统计数学基础上,与“个体”、“总体”、“批”、“样本”、 “样本量”、“随机抽取”、“分布”等等统计学概念有关。电子产品在寿命的随机失效期的故障率为常数,符合指数分布。
1.3一般要求
试验大纲必须经过有关方面讨论批准。统计试验方案由订购方在合同中规定,从有关标准中选定。试验样品的技术状态应是经过批准的。试验剖面应代表实际使用环境条件。试验应在授权的实验室在用户代表监督下进行。 2 可靠性验证试验大纲
2.1试验大纲内容试验对象和数量
试验目的、进度;试验方案;试验条件:试验设备提供的应力及其容差、检测设备及其精度要求;试验场所,经订购方认可按以下顺序选定:独立实验室,合同乙方以外的实验室,合同乙方的实验室;设置评审点、开展FRACAS要求。
2.2 试验方案
A根据大纲要求制定试验方案,内容包括:试验项目;选定统计试验方案:号码、鉴别比D、风险α和β、试验时间T、样品数量、是否可替换;试验剖面;故障判据及分类;有关试验方职责分工;计划进度、经费、人员、维修器材等资源保证条件;其它可靠性活动信息。
B试验方案选定因素定时截尾试验,累积试验时间是确定的,便于试验计划安排和管理,但不一定是最经济的;定数截尾试验,累计相关故障数是确定的,在采取不可替换的试验时,样品数量是也确定的,也不一定是最经济的。 等概率比序贯试验,做出判据所需的故障数和累计试验时间比定时截尾和定数截尾试验的少,事前只能确定它们的最大值,但样品数量和试验时间难以确定,不便于试验计划安排和管理,最大累积试验时间和累计故障数有可能超过定时截尾或定数截尾的试验。
2.3试验条件可靠性验证试验剖面应典型代表产品的使用条件:功能模式,当产品有超过1种使用模式时,应分析各自所占时间的百分比,确定模式转换的方式,提出试验用典型工作模式;输入信号,试验中测试设备向样品输入一系列信号,使样品正常工作;负载条件,样品输出端应模拟使用状态加载,测试样品输出性能;样品操作,试验中由产品操作人员模拟使用状态进行操作;保障条件,实验室提供的电源、水源、气源等的各项参数应符合要求;试验剖面,尽量采用综合应力试验设备模拟产品使用条件,同时对样品施加温度、湿度、振动、低气压等应力;样品维护和修理,试验大纲可能规定样品有定期维护的程序,应按照产品使用说明正常维护,不得改变其技术状态;样品发生故障,应准予修理,由承制方保证条件并实施,不得改变样品技术状态。
2.4试验程序应根据试验方案制定试验程序,经订购方审批后作为落实试验计划的文件,内容包括:试验过程;样品及其技术状况;需检测的特性参数、故障判据及其容限、检测时段及方法;综合环境条件及其容差;试验日志及记录的数据内容、记录时间间隔要求;故障记录表格及其登记内容、分析报告要求;中断试验的规定,定期维护时间、故障发生之后、试验条件超出容限无法纠正时、行政管理需要时;样品故障的处置程序,及时记录故障现象和发生的应力条件及操作动作、确认故障、报告试验负责人、在温度到达常温点中断试验、取出故障样品、修理样品或继续试验(在不可替换方案中,待样品修理检测正常后;在可替换方案中,装上备份样品后)、分析故障明确是否关联、FRACAS、记录故障处理过程。
2.5试验评审试验评审包括:试验大纲评审、试验方案评审、试验程序评审、试验准备状态评审、试验中评审、试验完成综合评审。前4项评审可以结合在一起进行,必须有订购方代表参加;试验中评审视情况进行,如对故障处理和试验进度、序贯试验终结与否进行评审,由试验现场负责人组织实施;试验完成综合评审,应在试验报告编制完成之后进行,评价试验结果、产品可靠性水平及其接收与否的结论、FRACAS报告、问题处置和纠正措施的落实等。
2.6联合试验小组联合试验小组由试验方、承制方和订购方代表组成,包括试验、总体、设计、生产、质量可靠性等专业人员,一般由试验方任组长、承制方和订购方任副组长,负责协调实施试验大纲,具体工作:执行试验评审和试验程序,审核试验数据,审批样品故障的分类和FRACAS的纠正措施,审批试验中断程序。
2.7 试验报告要求试验报告是产品可靠性水平的正式记录,包括试验中产生的各种原始记录和试验结果的处理报告和结论意见。
3 指数寿命型统计试验方案
3.1 定数截尾鉴定试验
3.2 定时截尾鉴定试验   
  定时截尾试验预先规定累积试验时间为T*结束试验,期间出现r个关联故障
3.3 定时截尾试验标准方案
3.4序贯试验方案
序贯试验的试验时间不能预先确定,必须在试验过程应用公式进行计算,给管理上带来不便。为解决此问题,标准将各方案的判决时间与故障数的对应关系列出,试验过程不断应用即可。
4全数试验
如果订购方要求对每一台产品都进行可靠性试验,而不采用抽样试验方案,就是全数试验。标准根据序贯试验原理,给出了全数试验的判决时间表。有一些家用电器产品,其工作环境条件与生产厂最后考机的试验条件接近,如果把该工艺过程看成是可靠性验收试验,则属于全数试验的类型。如果根据上表进行判决也是可行的。 
 
第五章 可靠性保证试验
1 概述
1.1 环境应力筛选的无故障检验试验
1.1.1 试验目的与判据
前已说明,在GJB1032《电子产品环境应力筛选方法》中规定,在环境应力筛选的后期程序中要安排无故障检验试验。其目的是验证筛选的有效性。其方法是先进行80小时的温度循环,后进行最长15分钟的随机振动,所用应力参数与前面缺陷剔除程序的相同。无故障检验试验的判据是:在80小时温度循环中如果有连续40小时无故障、在最长15分钟随机振动中如果有连续5分钟无故障,就认为产品通过了环境应力筛选,否则要继续进行缺陷剔除筛选,之后再进行无故障检验试验。
1.1.2无故障检验试验的概念与发展
无故障检验试验作为环境应力筛选效果的验证试验,要验证产品是否达到了筛选方案中预期要剔除的缺陷百分值,也是衡量产品是否已经消除早期失效并进入随机失效期。随机失效期的失效率正是装备可靠性水平的标志。因此,无故障验证试验的最终目的是验证产品是否达到了设计的可靠性要求值。如果无故障检验试验通过了,我们就有理由认为产品达到了定量环境应力筛选方案所预期的要消除缺陷的高百分值(例如98%),也就是说产品以该百分值的置信水平达到了可靠性设计值。从这个含义出发,我们可以用这种试验来证明产品是否实现了设计的MTBF值,其置信概率可与环境应力筛选方案要求的相同。这就是由环境应力筛选发展而来的可靠性保证试验的出发点。
1.2 可靠性保证试验的性质与用途
1.2.1 可靠性保证试验的性质
可靠性保证试验以无失效的试验时间来验证设备的MTBF值,是环境应力筛选工作的外延和发展,其性质仍属工程试验的范畴。
1.2.2可靠性保证试验的应用
如前所述,通过MTBF保证试验的产品,被认为消除了高百分比的缺陷型早期失效和达到了设计的MTBF值。因此可靠性保证试验可用于推断产品的MTBF值。可为承制单位评估产品的MTBF值提供工程依据。
2 试验参数的确定
2.1 试验参数的定义
分享到:

来源:AnyTesting