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本文通过功率MOSFET管的工作特性，结合失效分析图片中不同的损坏形态，系统的分析过电流损坏和过电压损坏，同时，根据损坏位置不同，分析功率MOSFET管的失效是发生在开通的过程中，还是发生在关断的过程中，从而为设计工程师提供一些依据，来找到系统设计的一些问题，提高电子系统的可靠性。
2021/11/15 更新 分类：科研开发 分享
污水致污水处理装置损坏？技术鉴定查明真正原因
2018/03/27 更新 分类：热点事件 分享
本文分析了五种MOS管损坏原因。
2022/02/11 更新 分类：科研开发 分享
本文主要介绍了晶振损坏的原因分析与解决方法。
2022/04/15 更新 分类：科研开发 分享
本文介绍了各种电子元器件损坏后的现象。
2023/12/23 更新 分类：科研开发 分享
本文介绍了元器件损坏后的问题排查路径。
2024/04/07 更新 分类：科研开发 分享
本文以SURGE测试中通讯端口防护器件损坏为例，进行损坏机理分析、不同测试方法带来的影响分析、不同应用场景的测试方法选择，以及SURGE防护设计中的注意点等内容进行分析说明。
2021/10/21 更新 分类：科研开发 分享
陶瓷电容器耐压失效3种典型模式，陶瓷电容器失效的七大原因
2020/03/18 更新 分类：科研开发 分享
本文主要介绍了陶瓷电容器的介质老化与去老化方法。
2022/04/14 更新 分类：科研开发 分享
本文介绍了一种波峰焊工艺陶瓷电容的失效案例，与常见IR降低不同，此失效电容内部未发现任何裂纹和缺陷。
2022/05/25 更新 分类：科研开发 分享
