华为技术有限公司可靠性实验室

检测项：通信设备电源输入性能 检测样品：信息技术设备,通信设备 (EMC) 标准：ETSI EN 300 132-2 V2.4.6:2011 环境工程(EE);通信设备电源输入端口;第二部分:直流供电

检测项：协议一致性 检测样品：移动通信终端(一致性) 标准：YD/T 1842-2011 2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网 高速上行分组接入（HSUPA）终端设备协议一致性测试方法

检测项：射频测试 检测样品：无线通信设备 标准：ETSI EN 301 390 V1.2.1:2003 固定无线系统；点对点和多点系统；数字固定无线系统的设备/天线端口的杂散发射和接收抗扰限值

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国电信集团广东省电信公司艾特实验室

检测项：直流电源输入/输出端口传导骚扰 检测样品：通信电源设备 标准：通信电源设备电磁兼容性要求及测量方法 YD/T 983-2013

检测项：交流电源输入/输出端口传导骚扰 检测样品：通信电源设备 标准：通信电源设备电磁兼容性要求及测量方法 YD/T 983-2013

检测项：AC 输入端口机械结构 检测样品：移动通信终端电源适配器 标准：移动通信终端电源适配器及充电/数据接口技术要求和测试方法 YD/T 1591-2009

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

联想（北京）有限公司可靠性实验室

检测项：电源端口传导发射骚扰试验 检测样品：微型计算机 标准：《电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》 GB 17625.1-2012

检测项：通信端口传导发射骚扰试验 检测样品：微型计算机 标准：《电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》 GB 17625.1-2012

检测项：输入电流测试 检测样品：微型计算机 标准：《信息技术设备 安全 第1部分：通用要求》GB4943.1-2011 条款1.6.2

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

东莞新科技术研究开发有限公司长安分公司TDK华南电磁兼容实验室

检测项：直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度 检测样品：电信网络设备 标准：电磁兼容性.第4-29部分:试验和测量技术. 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度 EN 61000-4-29: 2000

检测项：辐射骚扰 检测样品：信息技术设备 标准：美国联邦通讯委员会 法规第15部分 FCC PART 15B :2012

检测项：电信端传导骚扰 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB9254-2008 EN55022:2010 CISPR 22:2008 AS/NZS CISPR22:2009+A1:2010 日本VCCI技术要求V-3/2011.04

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

检测项：最大输入电平 检测样品：蓝牙设备 标准：蓝牙HFP1.5测试规范 V1.5.10

检测项：EDR 最大输入电平 检测样品：蓝牙设备 标准：蓝牙PBAP测试规范 V1.0.5

检测项：高输入电平下的误码率 检测样品：无线寻呼系统 标准：GB/T15938-1995《无线寻呼系统设备总规范》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

检测项：输入电平适应性 检测样品：干扰激励器 标准：GJB 3093-1997 通信干扰激励器通用规范

检测项：反向辐射电平 检测样品：数字式搜索 接收机 标准：GJB 4268-2001 通信对抗数字式搜索接收机通用规范

检测项：反向辐射电平 检测样品：功率放大器 标准：GJB3258-1998 功率放大器通用规范

机构所在地：浙江省嘉兴市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输入电平适应范围 检测样品：微波器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输入电流 检测样品： 标准：

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>