国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

检测项：一致性测试 检测样品：WCDMA移动台 标准：ETSI TS 134 123-2 V9.5.0 (2011-11)全球移动通信系统; 用户设备(UE)一致性规范; 第二部分: 应用一致性陈述(ICS)形式规范(Release 9)

检测项：一致性测试 检测样品：WCDMA移动台 标准：3GPP TS 34.123-2 V9.7.0 (2011-12) 3GPP技术规范;无线接入网技术规范; 用户设备(UE)一致性规范; 第二部分: 应用一致性陈述(ICS)形式规范(Release 9)

检测项：一致性测试 检测样品：WCDMA数字蜂窝移动终端设备 标准：通用移动通信系统(UMTS)；用户设备(UE)一致性技术规范; 第二部分:执行一致性陈述(ICS)形式规范(Release 9) ETSI TS 134 123-2 V10.4.0 (2013-04)

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上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：全部参数 检测样品：本质安全型电路和电气设备（Exia/ib/ic） 标准：爆炸性环境 第4部分：由本质安全型“i”保护的设备GB 3836.4-2010 爆炸性环境 第18部分：本质安全系统GB 3836.18-2010 爆炸性环境 第19部分：现场总线本质安全概念(FISCO)GB 3836.19-2010 爆炸性环境 第20

检测项：辐射骚扰 检测样品：信息技术设备；家用电器；电信设备；声音和电视广播设备；工科医设备；照明灯具和其它电子设备 标准：电磁兼容性和无线电频谱关系；电信网络的EMC要求EN 300386:2010 声音和电视广播接受机及有关设备无线电干扰特性限值和测量方法方法 GB 13

检测项：骚扰功率 检测样品：信息技术设备；家用电器；电信设备；声音和电视广播设备；工科医设备；照明灯具和其它电子设备 标准：电磁兼容-对家用器具、电动工具和类似器具的要求 第1部分EN 55014-1:2006 声音和电视广播接受机及有关设备无线电干扰特性限值和测量方法CISPR 13:2006 电磁兼容-对家用器具、电动工具和

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上海新蓦尔通信技术有限公司摩尔实验室

检测项：辐射杂散 检测样品：第三代蜂窝无线通信 终端 备 标准：UMTS用户终端(UE)一致性规范；无线发射和接收(FDD)：第1部分： 一致性规范 ETSI TS 34 121-1 V10.7.0 (2013-07) UMTS用户终端(UE)一致性规范；无线发射和接收(FDD)：第2部分： 执行一致性陈述(ICS)

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北京市无线电监测站

检测项：码域功率 检测样品：800MHz CDMA数字蜂窝移动台 标准：《800MHz/2GHz CDMA2000数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台（含机卡一体机）》 YD/T 1558-2013

检测项：开环输出功率范围 检测样品：800MHz CDMA数字蜂窝移动台 标准：《800MHz/2GHz CDMA2000数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台（含机卡一体机）》 YD/T 1558-2013

检测项：开环功率控制的时间响应 检测样品：800MHz CDMA数字蜂窝移动台 标准：《800MHz/2GHz CDMA2000数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台（含机卡一体机）》 YD/T 1558-2013

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上海集成电路研发中心有限公司测试实验室

检测项： 检测样品： 标准：

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香港科技园公司无线通讯测试中心

检测项：短讯服务 检测样品： 标准：

检测项：HS-DSCH 解调(恒参讯道) 检测样品：WCDMA 移动台 标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端 不测HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

检测项：讯道质量标示报告 检测样品：WCDMA 移动台 标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端 不测HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：增益误差EG 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：精度EA 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：线性误差EL 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：静态参数 检测样品：采样/保持放大器 标准：半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

检测项：动态参数 检测样品：采样/保持放大器 标准：半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

检测项：部分参数 检测样品：DC/DC变换器 标准：电源变换器测试方法 QJ 1467A-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 合集成电路通用规范 GJB 2438A-2002

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：释放电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：吸合时间 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：释放时间 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

机构所在地：北京市 更多相关信息>>