武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：正向阈值电压下的输入电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管GB/T6571-1995

检测项：反向电压VR 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管GB/T6571-1995

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：正向跨导gfs 检测样品：晶体振荡器 标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

广东省电子电器产品监督检验所

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体器件 分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995

检测项：正向峰值电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：引出端强度 拉力 检测样品：发光二极管 标准：半导体器件机械和气候试验方法 GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法 第1部分：总则 GB/T 4937.1-2006

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：正向跨导Gfs 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

中达电子（江苏）有限公司分析实验室

检测项：VF-正向电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 IEC 60747-2(第二版 2000-03)

检测项：VFM: 正向峰值電壓 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品：电子电气设备 标准：GB/T 17626.11-2008 IEC 61000-4-11:2004 EN61000-4-11:2004 电磁兼容试验和测量技术 电压暂降,短时中断和电压变化的抗扰度试验

机构所在地： 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：正向电压（VF） 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管　 GB/T4023-1997 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995

检测项：正向压降 （VF ） 检测样品：电容器 标准：电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T 2693-2001

检测项：正向栅源漏电流（IGSSF） 检测样品：光电 耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：正向直流电压VF 检测样品：二极管 标准：1.GB/T 4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管； 2.GB/T 6571-1995半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管；

检测项：正向跨导gfs 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：正向栅源漏电流Igssf 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

广州市鸿利光电股份有限公司实验室

检测项：正向电压 检测样品： 标准：

检测项：正向电流 检测样品： 标准：

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：正向电压VFL、正向电压VFL－正向电流IFL曲线的测试 检测样品：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007

检测项：正向电压VFL、正向电压VFL－正向电流IFL曲线的测试 检测样品：2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件 标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第2部分：2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.2-2007

检测项：阈值电流Ith、输出光功率P－正向电流IFL曲线的测试 检测样品：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>