广东惠晟检验科技有限公司

检测项：部分项目 检测样品：灯的控制装置 标准：GB 19510.4-2009 IEC 61347-2-3:2011 EN 61347-2-3:2001+A1:2004 +A2:2006 AS/NZS 61347.2.3:2004 灯的控制装置 第4部分:荧光灯用交流电子镇流器的特殊要求

检测项：全部项目 检测样品：管形荧光灯交流电子镇流器 标准：GB/T 15144-2009 IEC 60929:2002 管形荧光灯用交流电子镇流器 性能要求

检测项：电动机输入功率 检测样品：电风扇 标准：GB 12021.9-2008 交流电风扇能效限定值及能效等级

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通标标准技术服务有限公司深圳分公司检测中心

检测项：部分项目 检测样品：低压直流电源 标准：对额定电流不大于16A的设备的交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验 GB 17626.13-2006 EN 61000-4-13:2002+A1:2009 IEC 61000-4-13:2002+A1:2009

检测项：部分项目 检测样品：额定电流不大于16A的电气设备 标准：低压电器及电子设备发出的谐波电流限值（设备每相输入电流 ≦16A） GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009

检测项：部分项目 检测样品：低压直流电源 标准：对额定电流不大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2008 EN 61000-3-3:2008

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深圳市通标科技有限公司

检测项：电磁兼容性（EMC）要求 检测样品：不间断电源设备（UPS) 标准：不间断电源设备(UPS).第2部分:电磁兼容性（EMC）要求 GB/T7260.2-2009 EN 62040-2:2006 IEC 62040-2:2005 AS/NZS 62040.2

检测项：谐波电流 检测样品：额定电流不大于16A的设备 标准：电磁兼容限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2012 IEC61000-3-2:2009 EN 61000-3-2:2006 +A1：2009+A2：2009 AS/NZS 61000-3-2:200

检测项：绝缘电阻和潮态 检测样品：LED驱动 标准：GB 19510.14-2009 LED模块用直流或交流电子控制装置的特殊要求 EN 61347-2-13:2006 IEC 61347-2-13:2006

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上海精密计量测试研究所

检测项：截止态源极漏电流IS（off） 检测样品：电压基准 标准：SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范

检测项：截止态源极漏电流IS（off） 检测样品：电压基准 标准：SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范

检测项：截止态漏极漏电流ID（off） 检测样品：电压基准 标准：SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：栅-源短路时的漏极电流 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：栅-源短路时的漏极电流 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 》

检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：截止态源极漏电流 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T4377-1996

检测项：备用消耗电流和备用消耗电流变化 检测样品：半导体集成电路模拟乘法器 标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理　 GB/T14029-1992

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：栅源极截止（漏泄）电流IGSS 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：漏源极截止电流IDSS 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：部分参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

江苏方天电力技术有限公司

检测项：现场断口耐压试验 检测样品：高压试验 标准：《电气装置安装工程 电气设备交接试验标准》 GB 50150-2006

检测项：现场断口耐压试验 检测样品：高压试验 标准：电气装置安装工程 电气设备交接试验标准 GB 50150-2006

检测项：现场谐振耐压试验 检测样品：高压试验 标准：《气体绝缘金属封闭开关设备现场耐压及绝缘试验导则》 DL/T 555-2004 《电气装置安装工程 电气设备交接试验标准》 GB 50150-2006

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：源极开路时，栅极截止电流IGDO 检测样品：场效应晶体管 标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件

检测项：漏-源短路时，栅极截止电流IGSS 检测样品：场效应晶体管 标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件

检测项：栅-源短路时的漏极电流IDSS 检测样品：场效应晶体管 标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：正向栅源漏电流Igssf 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：反向栅源漏电流Igssr 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：反向截止电流ICEO 检测样品：晶闸管 标准：GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分：晶闸管

机构所在地：北京市 更多相关信息>>