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机构所在地:
检测项:正向电压VF 检测样品:光电耦合器 标准:《半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997
检测项:击穿电压V(BR) 检测样品:光电耦合器 标准:《半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997
检测项:工作电压VZ 检测样品:光电耦合器 标准:《半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997
机构所在地:贵州省贵阳市
检测项:Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、S、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品:不锈钢的光电发射光谱分析 标准:《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008
机构所在地:上海市
检测项:Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、S、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品:不锈钢的光电发射光谱分析 标准:《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008
机构所在地:浙江省杭州市