常州亿晶光电科技有限公司组件测试实验室

检测项：可接触性试验 检测样品： 标准：

检测项：抗划伤试验 检测样品： 标准：

检测项：接地连续性试验 检测样品： 标准：

机构所在地：江苏省金坛市 更多相关信息>>

厦门立达信光电有限公司照明实验室

检测项：保护接地装置 检测样品： 标准：

检测项：防潮与绝缘 检测样品： 标准：

检测项：介电强度 检测样品： 标准：

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

广州市鸿利光电股份有限公司实验室

检测项：色温 检测样品： 标准：

检测项：正向电压 检测样品： 标准：

检测项：反向电流 检测样品： 标准：

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：工作电压VZ 检测样品：光电耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：电压调整率 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：电流调整率 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：静态电流 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：击穿电压V(BR) 检测样品：光电耦合器 标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：工作电压VZ 检测样品：光电耦合器 标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

武汉网锐实验室(信息产业光通信产品质量监督检验中心)

检测项：光纤特性 检测样品：光电综合引入光缆 标准：GB/T 13993.2-2002 通信光缆系列第2部分:核心网用室外光缆; YD/T2159-2010接入网用光电混合缆

检测项：光电性能 检测样品：密集波分复用环境下光纤配线架 标准：中国电信《密集波分复用环境下光纤配线架技术条件》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

上海宝钢化工有限公司宝山分公司化验室

检测项：Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、S、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品：不锈钢的光电发射光谱分析 标准：《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008

检测项：全部项目 检测样品：调味鱼干 标准：《调味鱼干 》SC/T3203-2001

检测项：全部项目 检测样品：马铃薯片 标准：《马铃薯片》QB/T 2686-2005

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

萧山区质量计量监测中心

检测项：Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、Pb、S、Sb、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品：不锈钢的光电发射光谱分析 标准：《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008

检测项：Al、As、C、Co、Cr、Cu、Mn、Mo、Ni、P、S、Si、Sn、Ti、V、W 检测样品：不锈钢的光电发射光谱分析 标准：《不锈钢的光电发射光谱分析方法》 GB/T11170-2008

检测项：全部项目 检测样品：挂面 标准：《挂面》 LS/T 3212-1992

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：增益误差 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

检测项：线性误差 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

检测项：电源电压灵敏度 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

机构所在地：上海市 更多相关信息>>