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一次性使用无菌宫颈刮板产品描述:由木片、竹片等材料制成的片状器械,无菌提供。 一次性使用无菌宫颈刮板预期用途:用于获取宫颈表面的样本。 一次性使用无菌宫颈刮板品名举例:一次性使用无菌宫颈刮板 一次性使用无菌宫颈刮板管理类别:Ⅱ 刮宫片产品描述:由木片、竹片等材料制成的片状器械,非无菌提供。 刮宫片预期用途:暂无内容 ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年06月26日
检测项:导通电阻路差 △Ron 检测样品:电压基准 标准:SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范
检测项:导通电阻Ron 检测样品:模拟开关 标准:GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:导通电阻Ron 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:导通态漏电流IDS(on ) 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:小信号短路正向跨导gfs 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:导通电阻 检测样品:模拟开关 标准:半导体集成电路模拟开关测试方法 的基本原理 GB/T 14028-1992
检测项:导通态漏电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:跨导 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:导通电阻路差 检测样品:半导体集成电路模拟开关 标准:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992
检测项:静态导通电阻 检测样品:CMOS集成电路 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:静态导通电阻 检测样品:RF器件 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:导通电阻 检测样品:模拟集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
检测项:导通电阻路差 检测样品:模拟集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
检测项:低压电气元件通电操作试验 检测样品:组合式变压器 标准:电力变压器试验导则JB/T501-2006, 电力变压器 第1部分 总则 GB1094.1-1996/ IEC60076-1:2011, 组合式变压器JB/T 10217-2000,油浸式电力变压器技术参数和要求GB/T6451–2008, 单相油浸
检测项:绝缘油击穿电压测量 检测样品:电力变压器 标准:电力变压器试验导则JB/T501-2006,电力变压器 第1部分 总则GB1094.1—1996、IEC60076-1:2011。
检测项:低压电气元件通电操作试验 检测样品: 标准:
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检测项:导通电阻Ron 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项:导通电阻路差ΔRon 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项:导通态漏电流 IDS(on ) 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:导通电阻Ron 检测样品:模拟开关 标准:《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:运算放大器 标准:《半导休集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:运算放大器 标准:《半导休集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:双向开关导通电阻 检测样品:半导体集成电路模拟开关 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:导通电阻路差 检测样品:半导体集成电路模拟开关 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:导通电阻RON 检测样品:模拟开关 标准:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992
检测项:导通态漏电流IDS(on) 检测样品:脉宽调制器 标准:半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项:电压调整率 检测样品:电压 调整器 标准:GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理