射基极关态电流检测实验

电子射野成像系统

简介

电子射野成像系统

简介

电子射野成像系统产品描述：通常由正对于治疗射线束的射线探测单元、相关软件等组成。

电子射野成像系统预期用途：配合外照射设备，通过采集射野图像，主要用于患者在放射治疗中的引导和位置验证。

电子射野成像系统品名举例：电子射野成像装置、实时影像动态验证系统

电子射野成像系统管理类别：Ⅲ

电子射野成像系统相关指导原则：
1、用于放射治疗的X射线图像引导系统注册技术审查指导原则

电子射野成像系统相关标准：
1、YY/T 1676-2020 超声内窥镜
2、YY/T 1480-2016 基于声辐射力的超声弹性成像设备性能试验方法
3、YY/T 1521-2017 超声弹性仿组织体模的技术要求下载

电子射野成像系统相关检测项目：
1 . 通用要求《放射治疗中电子射野成像装置性能和试验方法： YY/T 0890-2013》
2 . 机械支撑结构《放射治疗中电子射野成像装置性能和试验方法： YY/T 0890-2013》
3 . 成像性能要求《放射治疗中电子射野成像装置性能和试验方法： YY/T 0890-2013》

收起百科↑ 最近更新：2023年03月02日

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：基极-发射极饱和电压VBEsat 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：漏源通态电流检测样品：晶闸管标准：半导体器件第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994

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中达电子（江苏）有限公司分析实验室

检测项：ICBO:集电极与基极间反向漏电流检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

检测项：VCBO: 集电极与基极间反向击穿电压检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

检测项：VEBO:发射极与基极间反向击穿电压检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：发射极—基极截止电流检测样品：半导体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

检测项：集电极—基极截止电流检测样品：半导体三极管标准：半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管GB/T 4587-1994

检测项：发射极—基极截止电流检测样品：固定电感器标准：电子设备用固定电感器_第2部分_分规范表面安装电感器 SJ/T 11287-2003

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：集电极-基极暗电流检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：集电极-基极电流检测样品：整流二极管标准：GB/T6571-1995半导体器件分立器件和集成电路第2部分整流二极管

检测项：发射极-基极电流检测样品：整流二极管标准：GB/T6571-1995半导体器件分立器件和集成电路第2部分整流二极管

检测项：集电极-基极电流检测样品：光电耦合器标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：晶体三极管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：二极管标准：《半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995

检测项：输出高阻态电流检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

检测项：开路断态电流Ido 检测样品：半导体集成电路（运算放大器）标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章通用测试方法

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：场效应晶体管标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法方法3011

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章通用测试方法

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中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章2.1条第Ⅳ章2.2条第Ⅳ章3条第Ⅳ章4.2条第Ⅳ

检测项：集电极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章2.1条第Ⅳ章2.2条第Ⅳ章3条第Ⅳ章4.2条

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管第Ⅳ章2.1条第Ⅳ章2.2条第Ⅳ章3条第Ⅳ章4.2条

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