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心肺复苏设备产品描述:通常由按压控制系统、按压装置、心肺复苏板、通气控制系统组成,一般配有氧气瓶、氧气减压器、医用气体低压软管组件、呼吸通气系统、呼吸管路和监测系统等附件或辅助功能模块。是一种通过按压患者胸部并进行间隙性通气从而实现心肺复苏功能的自动装置。 心肺复苏设备预期用途:用于对心跳呼吸骤停的患者进行呼吸救助和胸外按压等心肺复苏抢救。 心肺复苏设备品名举例:心肺...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月20日
检测项:音频均衡器增益限制的有效频率范围 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012
检测项:增益限制的有效频率范围 检测样品:声频功率放大器 标准:《高保真声频放大器最低性能要求》GB/T14200-1993
检测项:增益差 检测样品:声频功率放大器 标准:《高保真声频放大器最低性能要求》GB/T14200-1993
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:部分 项目 检测样品:通信设备 (空中性能) 标准:移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008
检测项:部分 项目 检测样品:通信设备(空中性能) 标准:移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008
检测项:全部 项目 检测样品:通信设备(射频性能) 标准:电磁兼容性和无线电频谱管理(ERM).地面移动业务.主要用于模拟语音带有内或外RF连接器的无线电设备.第1部分:技术特性和测量方法 EN300086-1 V1.4.1 (2010-06)
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:D/A增益误差 检测样品:CMOS集成电路 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:A/D增益误差 检测样品:CMOS集成电路 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:开环电压增益 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出共模 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:电源电压 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:音频设备 标准:IEEE Std 149-1979 (R2008)天线测试标准
检测项:元器件 检测样品:信息技术设备(安全)信息技术设备(安全) 标准:GB4943.1-2011 《信息技术设备的安全》
检测项:电源接口 检测样品:信息技术设备(安全)信息技术设备(安全) 标准:GB4943.1-2011 《信息技术设备的安全》
检测项:开环电压增益 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:增益 检测样品:电磁继电器 标准:GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范
检测项:开环电压增益 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
检测项:共模抑制比 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:增益误差EG 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:共摸抑制比KCMR 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:共模抑制比 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:电源电压抑制比 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:共模抑制比 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:电源电压抑制比 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996