上海精密计量测试研究所

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出截至态电流IO(OFF) 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：输出高阻态电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入高电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：DC/DC模块 标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

福建省产品质量检验研究院

检测项：全部项目 检测样品：低压开关设备和控制设备 标准：低压开关设备和控制设备 第1部分 总则GB 14048.1-2006

检测项：全部项目 检测样品：低压开关设备和控制设备 标准：低压开关设备和控制设备第2部分：断路器GB 14048.2-2008

检测项：全部项目 检测样品：低压成套开关设备和控制设备 标准：低压成套开关设备和控制设备 智能型成套设备通用技术要求GB/T 7251.8-2005

机构所在地：福建省福州市 更多相关信息>>

中煤科工集团常州自动化研究院矿用通信监控设备实验室

检测项：部分项目** 检测样品：煤矿用隔爆型控制按钮 标准：MT/T624-2007煤矿用隔爆型控制按钮

检测项：部分项目** 检测样品：煤矿用隔爆型控制按钮 标准：MT/T624-2007煤矿用隔爆型控制按钮

检测项：部分项目** 检测样品：矿用电机车司机控制器 标准：MT/T1050-2007矿用电机车司机控制器

机构所在地：江苏省常州市 更多相关信息>>

江苏省优联检测技术服务有限公司

检测项：分断能力 检测样品：连接器 标准：家用和类似用途连接器 第1部分：一般要求 IEC 60320-1-2007

检测项：分断能力 检测样品：连接器 标准：家用和类似用途连接器 第1部分：一般要求 IEC 60320-1-2007

检测项：分断容量 检测样品：插头/插座 标准：家用和类似用途插头插座 第1部分 通用要求 CEI/IEC 60884-1-2006 家用和类似用途插头插座 第1部分：一般要求 DIN VDE 0620-1-2010

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：截止态源极漏电流 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：导通态漏电流 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>