信息技术设备中电压波动和闪烁的检测

检测项：电压波动和闪烁 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

广州市鸿利光电股份有限公司实验室

检测项：正向电压 检测样品： 标准：

检测项：正向电流 检测样品： 标准：

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：正向电压VFL、正向电压VFL－正向电流IFL曲线的测试 检测样品：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007

检测项：正向电压VFL、正向电压VFL－正向电流IFL曲线的测试 检测样品：2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件 标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第2部分：2.5Gb/s无致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.2-2007

检测项：阈值电流Ith、输出光功率P－正向电流IFL曲线的测试 检测样品：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 标准：光通信用高速半导体激光器组件技术条件 第1部分：2.5Gb/s致冷型直接调制半导体激光器组件 YD/T 1687.1-2007

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：正向阈值电压下的输入电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

检测项：正向压降 检测样品：开关二极管 标准：GB/T6571-1995第3部分信号（包括开关）和调整二极管

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：正向阈值电压下的输入电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

西北机电工程研究所检测和校准实验室

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：《高稳定薄膜固定电阻器总规范》 GJB 1929-1994

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：《片式膜固定电阻器通用规范》 GJB 1432B-2009

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997

机构所在地：陕西省咸阳市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：正向电压VF 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法4011

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.2条

检测项：门极触发电压 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法 SJ 2215.2-1982

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997

检测项：正向电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994

检测项：电压调整率 检测样品：电压 调整器 标准：GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：微电路模块 标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：正向电压VF 检测样品：微电路模块 标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：正向电压VF 检测样品：二极管 标准：1、GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 . 2、GB/T 6571-1995 半导体器件分

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>