国网计量中心

检测项：正向电压 检测样品：继电器 标准：控制用电磁继电器可靠性试验通则 GB/T15510-2008 电子式电能表用磁保持继电器 JB/T10923-2010

检测项：短时热电流试验 检测样品：低压电流互感器 标准：计量用低压电流互感器 Q/GDW 572-2010

检测项：短时电流试验 检测样品：电流互感器 标准：电流互感器 GB 1208-2006 电力用电压互感器订货技术条件 DL/T 726-2000 电力用电流互感器订货技术条件 DL/T 725-2000 互感器 第1部分:电流互感器 IEC 60044-1:2003

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所照明检测中心

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管芯片 标准：LED 测量 CIE 127:2007

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管芯片 标准：半导体发光二极管芯片测试方法 SJ11399-2009

检测项：反向电流 检测样品：发光二极管 标准：半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

潍坊半导体照明产品检测中心

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管 标准：半导体二极管测试方法 SJ/T 11394-2009

检测项：泄漏电流 检测样品： 标准：

检测项：基本电性能和电流谐波测量 检测样品：LED模块 标准：普通照明用LED模块测试方法 GB/T 24824-2009

机构所在地：山东省潍坊市 更多相关信息>>

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所质检中心

检测项：正向电压 检测样品：发光二极管（LED） 标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

检测项：反向电流 检测样品：发光二极管（LED） 标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

检测项：泄漏电流 检测样品：防静电工作区 标准：GJB3007A-2009《防静电工作区技术要求》、SJ/T 10694-2006《电子产品制造与应用系统防静电检测通用规范》

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>

中达电子（江苏）有限公司分析实验室

检测项：VF-正向电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 IEC 60747-2(第二版 2000-03)

检测项：VFM: 正向峰值電壓 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

检测项：谐波电流发射 检测样品：电子电气设备 标准：GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2:2006+A2:2009 IEC61000-3-2:2005 +A1:2008+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值 (设备每相输入电流≤16A)

机构所在地： 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：正向电压 检测样品：二极管 标准：GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管

检测项：发射极-基极截止电流 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T 4587-1994 半导体器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管

检测项：输入失调电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

江苏省机械研究设计院有限责任公司机械检测中心

检测项：正向压力损失 检测样品：液压电磁换向阀 标准：GB/T8106-1987 《方向控制阀试验方法》 GB/T8107-1987 《液压阀压差流量特性试验方法》 JB/T10365-2002《液压电磁换向阀》

检测项：正向压力损失 检测样品：液压节流阀 标准：GB/T8104-1987 《流量控制阀试验方法》 GB/T8107-1987 《液压阀压差流量特性试验方法》 JB/T10368-2002《液压节流阀》

检测项：正向压力损失 检测样品：液压卸荷溢流阀 标准：GB/T8105-1987 《压力控制阀试验方法》 GB/T8107-1987 《液压阀压差流量特性试验方法》 JB/T10371-2002《液压卸荷溢流阀》

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

歌尔声学股份有限公司实验中心

检测项：指向性特性 检测样品：麦克风 标准：音响系统设备第四部分-麦克风 IEC 60268-4:2010

机构所在地：山东省潍坊市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：正向压降 检测样品：二极管 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法4011、方法4016

检测项：正向压降 检测样品：二极管 标准：GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法303 直流电阻测试

检测项：正向压降 检测样品：二极管 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 方法4011、方法4016

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入正向阈值电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.4条

检测项：输入高电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1

检测项：输入低电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>