短路电流及内阻测定检测实验

骨填充及修复材料

简介

骨填充及修复材料相关指导原则： 1、增材制造聚醚醚酮植入物注册技术审查指导原则骨填充及修复材料相关标准： 1、YY/T 1794-2021 口腔胶原膜通用技术要求 2、YY/T 0524-2009 牙科学牙种植体系统技术文件内容查看详情>>

骨填充及修复材料

简介

骨填充及修复材料相关指导原则：
1、增材制造聚醚醚酮植入物注册技术审查指导原则

骨填充及修复材料相关标准：
1、YY/T 1794-2021 口腔胶原膜通用技术要求
2、YY/T 0524-2009 牙科学牙种植体系统技术文件内容

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福建省正毅工业计量站有限公司

检测项：稳态短路电流检测样品：伸长试验仪标准：漆包绕组线试验仪器设备检定方法伸长试验仪JB/T4279.3-1994

检测项：稳态短路电流检测样品：伸长试验仪标准：漆包绕组线试验仪器设备检定方法伸长试验仪JB/T4279.3-1994

检测项：输出电流检测样品：直流稳压电源标准：测量用直流稳压电源装置JB/T 9303-1999

机构所在地：福建省厦门市更多相关信息>>

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上海电缆研究所检测中心

检测项：部分项目检测样品：通信用光纤标准：光纤复合架空地线 DL/T832-2003

检测项：部分项目检测样品：通信用光纤标准：光纤复合架空地线（OPGW）用预绞式金具 DL/T766-2003

检测项：部分项目检测样品：通信光缆标准：第2部分：光缆基本试验方法 GB/T 7424.2-2008

机构所在地：上海市更多相关信息>>

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：晶体二极管标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：晶体二极管标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：TTL电路标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：极限短路电流（基准部分）IOS 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

检测项：漏电流检测样品：固定电感器标准：《电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序》GB/T 8554-1998

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华北电力科学研究院有限责任公司

检测项：组串短路电流测试检测样品：光伏发电单元标准：《并网光伏系统：系统文档、调试和检测的最低要求》 IEC 62446:版本 1.0 2009-05

检测项：组串短路电流测试检测样品：电气产品 (电磁兼容) 标准：《500kV超高压送变电工程电磁辐射环境影响评价技术规范》HJ/T 24-1998

检测项：测录三相短路特性曲线检测样品：同步发电机及调相机标准：《电气装置安装工程电气设备交接试验标准》GB 50150-2006 （3.同步发电机及调相机）《电力设备交接和预防性试验规程》Q/HBW-14701-2008 《电力设备交接和预防性试验规程》Q/CDT 107001-2005

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北京振兴计量测试研究所

检测项：栅源短路时的漏极电流检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：短路电流检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996

检测项：输出电流检测样品：标准：

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上海精密计量测试研究所

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：短路电流Isc 检测样品：模拟乘法器标准：GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：ECL电路标准：SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流≤16A) 检测样品：工业、科学和医疗射频设备标准：(1)GB/T17625.1-2003 (2)IEC 61000-3-2:2005 《电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出短路电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输出短路电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1

检测项：输出短路电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3011.1

检测项：输出短路电流检测样品：电子元器件标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.16条

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