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检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:数字集成电路 标准:GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:参考灵敏电平 检测样品:移动台 标准:移动通信手持机可靠性技术要求与测试方法YD/T 1539-2006
检测项:最大输入电平 检测样品:移动台 标准:移动通信手持机可靠性技术要求与测试方法YD/T 1539-2006
检测项:参考灵敏电平 检测样品:移动台 标准:移动通信手持机可靠性技术要求与测试方法 YD/T 1539-2006
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路、COMS电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第
检测项:输入低电平电流 检测样品:TTL电路、COMS电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第
检测项:最大输出电平 检测样品:有线数字电视广播QAM调制器 标准:有线数字电视广播QAM调制器技术要求和测量方法 GY/T 198-2003
检测项:最大输出电平 检测样品:交流电测量设备(通用要求) 标准:交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分:测量设备 GB/T 17215.211-2006 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分:测量设备 IEC 62052-11:2003 交流电测量设备-第1部分:通用要求,试
检测项:声功率 检测样品:噪声源 标准:声学 声压法测定噪声源声功率级 消声室和半消声室精密法 GB/T 6882-2008 旋转电机噪声测定方法及限值 第1部分:旋转电机噪声测定方法 GB/T 10069.1-2006 声学 声压法测定噪声源声功率级 反射面上方近似自由场的工程法 GB/T
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:DC/DC模块 标准:SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:校准信号电平 检测样品:数字示波器 标准:GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法
检测项:校准信号电平 检测样品:防静电服 标准:Q/W 1302-2010 防静电系统测试要求
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:自动电平控制(ALC)范围 检测样品:CDMA直放站 标准:《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1241-2002
检测项:自动电平控制(ALC) 检测样品:CDMA直放站 标准:《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1241-2002
检测项:标称最大输出功率 检测样品:CDMA直放站 标准:《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1241-2002
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:参考灵敏电平 检测样品:移动通信终端 标准:CTIA测试规范:移动台空中性能规范 V3.1
检测项:最大输入电平 检测样品:移动通信终端 标准:CTIA测试规范:移动台空中性能规范 V3.1
检测项:有用信号接收输入电平范围 检测样品:移动通信终端 标准:800MHz CDMA 1X数字蜂窝移动通信网设备测试方法:移动台 第1部分 基本无线指标、功能和性能 YDC 023-2006
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>