官方微信
您当前的位置:首页 > 资料中心> > 芯片失效模式与测试方法培训PPT(31页)
芯片失效模式与测试方法培训PPT(31页)
主要内容
芯片测试的意义
晶圆片上的污染
黑盒测试
故障模型
硬桥接故障
参数故障(弱桥接)
晶体管故障
组合电路的测试模板
时序电路
扫描路径
测试能力设计(DFT,design for testability)
边界扫描
TAP控制器
IDDQ测试
芯片可靠性
芯片 芯片失效 芯片故障 芯片测试
下载资料 上传资料
您的评论: 推荐
发表评论 可以输入500字
您的评论: 推荐
发表评论 可以输入500字