芯片故障模式与测试方法培训PPT（31页）

• 资料介绍

  芯片故障模式与测试方法培训PPT（31页）

  主要内容：

  芯片测试的意义
  晶圆片上的污染
  失效率随芯片面积的增加而提高
  黑盒测试
  故障模型
  硬桥接故障
  参数故障（弱桥接）
  晶体管故障
  组合电路的测试模板
  时序电路
  扫描路径
  测试能力设计（DFT，design for testability）
  边界扫描
  TAP控制器
  IDDQ测试
  芯片可靠性

• 资料大小：
  322.61KB
• 所属类别：
  检测案例
• 更新日期：
  2022-04-07
• 适用行业：
  电子电气；机动车；医疗器械
• 上传人：
  JENY
• 标 签：

  芯片 芯片故障

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