本文就以普通电子产品的国际基础标准要求与汽车电子的国际标准做一比较。

2021/04/16 更新 分类：行业研究 分享

本文主要介绍了两个电磁兼容静电整改案例及其如何解决ESD不过问题。

2021/07/06 更新 分类：检测案例 分享

某款Sound Bar产品±4KV接触放电出现自动关机现象分析与调试。

2024/06/30 更新 分类：检测案例 分享

某医疗器械公司药物鉴定系统产品，该产品可对某些药物进行种属鉴定分析。

2024/08/13 更新 分类：检测案例 分享

静电放电试验主要检查人或物体在接触设备时所引起的放电（直接放电），以及人或物体对设备邻近物体的放电（间接放电）时对设备工作造成的影响。静电放电时可以在0.5～20ns的时间内产生1～50A的放电电流。虽然电流很大但因持续时间很短，故能量很小。所以一般静电放电不会对人产生伤害，但对集成电路芯片等电子产品可能产生破坏性的危害。

2020/11/16 更新 分类：法规标准 分享

本文通过一个设备在技术开发阶段遇到的质量问题，比较两种模式：腔体结构的电压耦合量是无腔体结构的9.34倍，由此可以得出我的结论腔体结构对静电电荷有很大的耦合功功能和放大的结论。

2021/12/28 更新 分类：科研开发 分享

自然界中充斥着静电。对于集成电路行业，每一颗芯片从最开始的生产制造过程、封装过程、测试过程、运输过程到最终的元器件的焊接、组装、使用过程，几乎时刻都伴随着静电，在任何一个环节静电都有可能对芯片造成损伤。

2022/07/21 更新 分类：科研开发 分享

尽管HBM模型和IEC61000-4-2标准所模拟的ESD来源都是外部带静电的人体或物体，但两种标准面向的被放电的具体对象是不同的，并且他们的测试要求有几个最重要的差别值得注意。

2023/04/26 更新 分类：法规标准 分享

依据基础标准GB/T17626.2标准中规定了四个测试等级和1个开放测试等级。具体选择哪个测试等级依据产品所应用的行业领域以及某些特定的场景要求所共同确定。

2024/01/12 更新 分类：科研开发 分享

半导体器件在制造、测试、存储、运输及装配过程中，仪器设备、材料及操作者都很容易因摩擦而产生几千甚至上万伏的静电电压。当器件与这些带电体接触时，带电体就会通过器件引脚进行放电，从而可能导致器件的损伤。

2017/11/08 更新 分类：法规标准 分享