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  • 详解小试、放大实验和中试生产的区别和联系

    小试,放大实验和中试生产三者是相互联系非常密切的三个部分。三者的反应都是同一个反应,也就是说它们的反应原理是一致的。但是在细微操作上,三者总是有着或多或少的区别。很多反应稍微一经放大就容易出现这样那样的问题。其实并非它们反应的过程出现了什么问题,而是在反应的处理上两者应该有着细微的差别。

    2022/03/17 更新 分类:科研开发 分享

  • 合成小试转中试和工艺——放大过程中容易忽视的关键细节和关键问题梳理

    合成工艺放大的是高风险但高价值的化学生产方向,比起实验室的反应,工艺放大是每一锅都耗费大量金钱,人力,物力的反应,而且如果发生危险就是大事故,但是想要得到更多的目标化合物就不可避免的要进行中试,放大操作。如果想当然的用克级的反应方法来开几十到上百克的反应,那是相当的可怕的,不仅容易失败还有很高的危险。

    2024/08/10 更新 分类:科研开发 分享

  • 2014年集成电路行业发展回顾及展望

    2014年,在国家一系列政策密集出台的环境下,在国内市场强劲需求的推动下,我国集成电路产业整体保持平稳较快增长,开始迎来发展的加速期。

    2015/03/04 更新 分类:行业研究 分享

  • PCB电路板板翘曲的预防和整平方法

    印制电路板翘曲的成因,一个方面是所采用的基板(覆铜板)可能翘曲,但在印制电路板加工过程中,因为热应力,化学因素影响,及生产工艺不当也会造成印制电路板产生翘曲。  

    2016/09/20 更新 分类:生产品管 分享

  • 印刷电路板电磁兼容设计中的布局与布线

    印刷电路板电磁兼容设计中的布局与布线

    2017/09/01 更新 分类:法规标准 分享

  • 混合集成电路的失效模式和失效机理

    混合集成电路(HIC)的主要失效模式包括厚薄布线基板及互连失效、元器件与布线基板焊接/黏结失效、内引线键合失效、基板与金属外壳焊接失效、气密封装失效和功率电路过热失效等。

    2021/06/08 更新 分类:科研开发 分享

  • 国内外集成电路装备现状分析

    本文结合全球集成电路装备产业链条,解析全球及我国集成电路装备的技术体系及竞争态势。分析发现,我国集成电路装备发展快速,但仍短板明显,应进一步夯实基础,加快提升创新步伐。

    2021/07/02 更新 分类:科研开发 分享

  • 电路板污染物典型腐蚀分析及防护

    在以往研究的基础上,本文结合电路板大气污染物防护的实际问题,从电路板典型腐蚀失效和保护涂层的涂覆薄弱点入手,探讨电路板类产品应对大气污染物的具体防护措施。

    2021/12/08 更新 分类:科研开发 分享

  • 混合信号电路PCB的分区设计及元器件的布局、布线

    混合信号电路PCB的设计很复杂,元器件的布局、布线以及电源和地线的处理将直接影响到电路性能和电磁兼容性能。本文介绍的地和电源的分区设计能优化混合信号电路的性能。

    2023/02/10 更新 分类:科研开发 分享

  • 塑封集成电路开盖流程与方法

    塑封集成电路开盖的质量是塑封集成电路失效分析能够成功的关键,本文将介绍几种常见的塑封集成电路开盖流程与方法,并提供主流的芯片开盖化学配方。

    2024/11/15 更新 分类:科研开发 分享