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本文主要介绍元器件破坏性物理分析（DPA）的定义、目的和意义以及DPA工作的方法和程序。
2020/10/17 更新 分类：科研开发 分享
本文介绍元器件二次（补充）筛选实施应注意的七项问题。
2020/10/21 更新 分类：科研开发 分享
本文主要介绍几个可用于LED可靠性评估的电子元器件标准，以便引导大家去学习和掌握，能够将其运用于LED。
2020/11/06 更新 分类：科研开发 分享
本文主要介绍提高功率半导体器件可靠性的措施。
2020/12/20 更新 分类：科研开发 分享
本文着重介绍常用防护器件在产品中的基本应用，通过防护电路来提高产品抗静电、抗浪涌干扰的能力，从而提高产品的稳定性。
2021/03/08 更新 分类：科研开发 分享
本文介绍了电子元器件失效分析（FA），破坏性物理分析（DPA），其他人为因素造成的失效。
2021/05/28 更新 分类：科研开发 分享
为了避免选型过程中犯过的错误再犯，我们结合理论分析、实践数据、成功经验、失败教训等，整理出一些器件选型规范。
2021/09/02 更新 分类：科研开发 分享
本文介绍了国内外军用元器件超期复验要求。
2021/09/07 更新 分类：法规标准 分享
本文主要介绍了半导体器件失效机理、 分析方法和纠正措施。
2021/11/04 更新 分类：科研开发 分享
本文主要介绍了集成电路制造阶段中的静电导致器件的电性不良情况。
2021/11/17 更新 分类：科研开发 分享
