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  • LED封装可靠性测试与评估

    LED器件的失效模式主要包括电失效(如短路或断路)、光失效(如高温导致的灌封胶黄化、光学性能劣化等)和机械失效(如引线断裂,脱焊等),而这些因素都与封装结构和工艺有关。 LED的使

    2020/12/10 更新 分类:科研开发 分享

  • 开关电源中MOS管雪崩失效机理

    MOS管发生雪崩失效与其自身特性有关。实际的工程应用中,功率器件会降额,从而留有足够的电压余量。通过增加缓冲吸收电路,进一步避免或延缓其失效的发生。

    2021/06/16 更新 分类:科研开发 分享

  • TDR在失效定位中的应用

    本文通过两个案例介绍了TDR在失效定位中的应用:在分析复杂的PCB开短路问题或不破坏芯片的前提下,进行互连失效定位时,TDR无疑是一种非常有效的手段。

    2021/07/16 更新 分类:科研开发 分享

  • 汽车用继电器常见失效类型分析

    本文将通过汽车用继电器的选型、继电器的失效案例总结分析几种常见的失效模型,以期在车型的继电器使用中规避潜在的失效风险,提高整车电器的可靠性。

    2024/03/26 更新 分类:科研开发 分享

  • 多层陶瓷电容的失效模式与失效机理

    多层陶瓷电容(MLCC,Multi-Layer Ceramic Capacitor)是一种广泛使用的电子元件,特别是在高频和高温环境中。它们的失效模式与失效机理可以分为以下几种.

    2024/09/26 更新 分类:科研开发 分享

  • 半导体器件前段制程FEoL阶段负偏压温度不稳定性失效模式

    《半导体器件的失效机理和模型》将针对硅基半导体器件常见的失效机理展开研究。本文对FEoL阶段的负偏压温度不稳定性(NBTI)失效模式进行研究

    2024/10/11 更新 分类:科研开发 分享

  • 医疗器械的有效期、失效期和使用期的界定

    根据法规要求,医疗器械的说明书、标签应当标示医疗器械生产日期及使用期限(或失效日期),即标示 “生产日期 + 使用期限” 或 “生产日期 + 失效日期”。

    2024/11/14 更新 分类:法规标准 分享

  • LED光源模块的失效分析

    因为LED光源模块设计的多样性和组成的复杂性,所以造成失效的原因也非常多

    2015/11/26 更新 分类:实验管理 分享

  • 双碱法工艺脱硫塔内衬不锈钢失效分析及应对措施

    双碱法工艺脱硫塔内衬不锈钢失效分析及应对措施

    2016/12/09 更新 分类:法规标准 分享

  • 疲劳失效分析简介

    使用科学方法分析疲劳失效是一个新兴研究领域,其始于 1842 年对法国默东灾难性的凡尔赛铁路事故进行的调查。车头轮轴在运输过程中断裂,车头后面的车厢翻覆其上导致大火

    2017/08/02 更新 分类:法规标准 分享