EMC是对一个电子工程师能力的一个全面考量，整改过程可能会涉及到结构，软件，硬件，从芯片级，板级到系统级的各个层级，EMC问题中最为常见的就是RE辐射类问题。

2022/05/30 更新 分类：科研开发 分享

本文根据市面前三的打印机品牌的外围接口电路防静电设计，给广大硬件工程师科普下接口电路设计的要点和方案图。

2023/07/26 更新 分类：科研开发 分享

时钟问题作为RE测试中最常见的辐射问题之一，该如何解决时钟辐射超标问题，也困扰着广大研发和硬件工程师。本文在本人在整改时遇到的时钟问题进行探讨，分享一些个人的见解。

2023/10/31 更新 分类：检测案例 分享

硬件设计基础60个问答

2022/11/22 更新 分类：科研开发 分享

电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情，比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间，有时甚至炸机。

2017/11/01 更新 分类：实验管理 分享

FPGA和ASIC在降低功耗的同时，也具有越来越多的驱动电压，某些器件还特别对各种电压的上电顺序有严格的要求。硬件工程师在应用这些器件进行系统功能设计的同时，也将越来越多的面临如何提高电源可靠性方面的挑战。

2020/08/30 更新 分类：科研开发 分享

本文主要介绍了硬件开发的流程。

2022/03/03 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍硬件设计的实践路线。

2023/05/09 更新 分类：科研开发 分享

本文介绍了硬件设计规范。

2024/12/12 更新 分类：科研开发 分享

欧盟发布与硬件或硬件组件结合使用的医疗器械软件指南

2023/10/23 更新 分类：法规标准 分享