本文介绍了测量噪声系数的三种方法：增益法、Y系数法和噪声系数测试仪法。这三种方法的比较以表格的形式给出。

2025/01/03 更新 分类：科研开发 分享

电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情，比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间，有时甚至炸机。

2017/11/01 更新 分类：实验管理 分享

随着集成技术和微电子封装技术的发展，电子元器件的总功率密度不断增长，而电子元器件和电子设备的物理尺寸却逐渐趋向于小型、微型化，特别是5G技术的落定。所产生的热量迅速积累，导致集成器件周围的热流密度也在增加，所以，高温环境必将会影响到电子元器件和设备的性能，这就需要更加高效的热控制方案。因此，电子元器件、电子设备的散热问题已演变成为当前电

2021/01/07 更新 分类：科研开发 分享

老化（Burn in）是指在一定的环境温度下、较长的时间内对元器件连续施加环境应力，而环境应力筛选（ESS：Environment Stress Screen ）则不仅包括高温应力，还包括其他很多应力，例如温度循环、随机振动等，通过电-热应力的综合作用来加速元器件内部的各种物理、化学反应过程，促使隐藏于元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露，从而达到剔除早期失效产品的目的。

2021/11/02 更新 分类：科研开发 分享

瞬态器件是一种新兴的电子器件，其主要特征是在完成任务后可以通过化学或物理过程完全或部分溶解或分解构成材料，被认为是植入式器件的新研究方向。然而，瞬态器件的研究仍处于起步阶段，需要克服的挑战很多，尤其是瞬态能量器件的发展相对缓慢。

2022/02/20 更新 分类：科研开发 分享

美国东部时间2016年6月1日，DLC正式发布了Technical Requirements Table V4.0最终版，这是自2月19日发布的Technical Requirements Table V4.0草案以来，经过三个多月的多轮技术研究和探讨而最终确定的版

2016/06/17 更新 分类：法规标准 分享

近日，澳大利亚 / 新西兰标准局发布 AS/NZS 4417.2:2012 电子电气产品合规标志标准第四版修订标准 A4:2017 。该修订扩展了管控产品列表，重新划分了部分产品的安全级别，还更新了部分产

2017/09/08 更新 分类：法规标准 分享

沙特工业和商务部发出通告，规定从2016年2月9日起，SASO 2870：2015中所有在管制范围内的的照明类产品，出口沙特必须强制满足 SASO EER 能耗认证要求，该要求主要是针对产品能效等级、性能要求、标签及外包装、产品所含有害物质进行专业评估

2017/12/14 更新 分类：法规标准 分享

近日，杭州远方检测校准技术有限公司（远方检测）受欧司朗企业管理有限公司委托，应邀与欧司朗德国本部实验室进行了LED面光源的光生物安全比对测试，检测报告显示两者结果一致。

2018/01/02 更新 分类：实验管理 分享

不管是哪一个国家，要是想让自己的产品进入到欧盟国家，就必须办理CE认证，在自己的产品上贴上“CE”的标志，这是一种强制性的认证，所以，可以说CE认证是产品进入到欧盟市场的通行证，只有拥有了这个通行证，产品才可以在欧盟市场上流通！

2018/06/20 更新 分类：法规标准 分享