中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：微电子器件 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 （GB 3439-1982）

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：微电子器件 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 （GB 3439-1982）

检测项：电源电流ICC 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

中国北方车辆研究所测试中心

检测项：外部目检 检测样品：集成电路 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

检测项：电参数测试 检测样品：集成电路 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

检测项：温度循环 检测样品：集成电路 标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

华东光电集成器件研究所计量测试中心

检测项：稳态寿命 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：微电子器件试验方法和程序 　GJB548B-2005方法1015.1

检测项：稳态寿命 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：微电子器件试验方法和程序 　GJB548A-1996方法1005A

检测项：间歇寿命 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548B-2005方法1005.1

机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：电流调整率SI 检测样品：集成电路筛选 标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序

检测项：温度循环 检测样品：集成电路筛选 标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序

检测项：电源电压抑制比 检测样品：CMOS电路 标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序第4.5节方法5005.2

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：温度循环 检测样品：集成电路 筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：外部目检 检测样品：集成电路 筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品：集成电路 筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输出电流IO 检测样品：集成电路筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：输出纹波电压Vrip 检测样品：集成电路筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：电压调整率SV 检测样品：集成电路筛选 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：外观及机械检验 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

检测项：开帽内部设计目检 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

检测项：X射线无损检测 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数 检测样品：DC/DC变换器 标准：电源变换器测试方法 QJ 1467A-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997 微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 合集成电路通用规范 GJB 2438A-2002

检测项：高低温测试 检测样品：电子元器件试验 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法5004.2筛选程序

检测项：静态参数 检测样品：电子元器件试验 标准：微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

陕西千山航空电子有限责任公司检测中心

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>