武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：反向电流IR 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023－1997 半导体器件分立器件　第3部分： 信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995

检测项：漏电流 检测样品：固定电感器 标准：电子和通信设备用表变压器和电感器测量方法及试验程序 GB/T 8554-1998

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

西北机电工程研究所检测和校准实验室

检测项：反向漏电流IR 检测样品：晶体管 标准：《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997

机构所在地：陕西省咸阳市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：反向电流IR 检测样品：电阻器 标准：GB/T5729-2003《电子设备用固定电阻器总规范》

检测项：截止态漏级漏电流 ID（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

检测项：截止态源级漏电流 IS（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：反向电流 检测样品：晶体管 标准：半导体器件分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-1994

检测项：反向电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994

检测项：反向击穿电压 检测样品：晶体管 标准：半导体器件分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：反向重复峰值电流IRRM 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：反向重复峰值电流IRRM 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：1、GB/T 4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 2、GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 3、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：漏电流 检测样品：固定电感器 标准：GB/T8554-1998 电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：二极管反向电流偏转系数 检测样品：模拟示波器 标准：GB/T 6585-1996 阴极射线示波器通用规范

检测项：二极管反向电流偏转系数 检测样品：模拟示波器 标准：GB/T 6585-1996 《 阴极射线示波器通用规范 》

检测项：直流电流基本误差 检测样品：模拟直流电流表 标准：GB/T 7676.9-1998 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第9部分 推荐的试验方法

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：反向漏电流IR 检测样品：三极管 标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：反向电流IR 检测样品：光电耦合器 标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件 分立器件第5部分： 光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件 第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流≤16A) 检测样品：工业、科学和医疗射频设备 标准：(1)GB/T17625.1-2003 (2)IEC 61000-3-2:2005 《电磁兼容 限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：反向截止电流 检测样品：光电耦合器 标准：半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14-1982

检测项：反向电流 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：反向电流 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>