南京中认南信检测技术有限公司

检测项：空载损耗（静态电流） 检测样品：光伏电源系统 标准：GB/T 19064-2003 家用太阳能光伏电源系统技术条件和试验方法

检测项：静态电流 检测样品：通用电源 标准：CSA C22.2 No.107.1:2001 通用电源

检测项：静态MPPT效率 检测样品：光伏系统 标准：EN 50530-2010 光伏逆变器整体能效

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

西藏自治区能源研究示范中心新能源检测中心

检测项：静态电流 检测样品：独立光伏系统 标准：独立光伏系统-设计验证IEC 62124:2004

检测项：反向电流过载试验 检测样品：逆变器 标准：家用太阳能光伏电源系统技术条件和试验方法GB/T 19064-2003

检测项：低辐照度下的电压-电流特性曲线 检测样品：光伏组件 标准：地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型GB/T9535-1998/IEC61215:2005 地面用薄膜光伏组件设计鉴定和定型GB/T18911-2002/IEC61646:2008

机构所在地：西藏自治区拉萨市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：静态电源电流 检测样品：DC/DC电源变换器 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法　 SJ 20646-1997

检测项：静态条件下的电源电流 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第2部分： 数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：静态条件下的电源电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：共发射极静态电流传输比HFE 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：模拟输入电流AI 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：基准输入电流IRI 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：静态电源电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入高电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高电平电流 检测样品：TTL集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：静态电流 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

检测项：静态电流变化 检测样品：光电器件 标准：《半导体器件分立器件和集成电路 第5部分-3 光电子器件测试方法》GB/T15651.3-2003

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：共发射极静态电流传输比HFE 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》

检测项：截止态漏级漏电流 ID（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

检测项：截止态源级漏电流 IS（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：静态电源电流IC 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：静态接触电阻 检测样品：延时继电器 标准：混合和固体延时继电器总规范 GJB1513A-2009

检测项：输出电流 检测样品： 标准：

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值h21E 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第七部分：双极型晶体管

检测项：静态电流ID 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：静态电流ID 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中达电子（江苏）有限公司分析实验室

检测项：hFE:共发射接法时静态电流放大系数 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第8部分:场效应晶体管IEC 60747-8(第三版 2010-12)

检测项：谐波电流发射 检测样品：电子电气设备 标准：GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2:2006+A2:2009 IEC61000-3-2:2005 +A1:2008+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值 (设备每相输入电流≤16A)

检测项：IR: 反向电流 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

机构所在地： 更多相关信息>>