中达电子（江苏）有限公司分析实验室

检测项：hFE:共发射接法时静态电流放大系数 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第8部分:场效应晶体管IEC 60747-8(第三版 2010-12)

检测项：谐波电流发射 检测样品：电子电气设备 标准：GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2:2006+A2:2009 IEC61000-3-2:2005 +A1:2008+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值 (设备每相输入电流≤16A)

检测项：IR: 反向电流 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

机构所在地： 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：静态电源电流(IQ) 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：静态电流 （IQ） 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：静态条件下的电源电流(ICC) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：静态接触电阻 检测样品：电磁继电器 标准：GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范

检测项：静态漏-源通态电阻 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值（h21E） 检测样品：场效应晶 体管 标准：GB/T 4586－94《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》

检测项：静态条件下的电源电流ICC 检测样品：模拟开关/多路器系列集成电路 标准：GB/T14028-92《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：静态条件下的电源电流ICC 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：静态电源电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：静态电源电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：静态漏—源通态电阻 检测样品：场效应管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值 检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值 检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值 检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管 标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

内蒙古电力（集团）有限责任公司内蒙古电力科学研究院分公司

检测项：交流电流源技术性能检验 检测样品：继电保护测试仪 标准：《继电保护微机型试验装置技术条件》 DL/T 624-2010 《静态继电保护及安全自动装置通用技术条件》 DL 478-2010

检测项：交流电流源与交流电压源同步性检验 检测样品：继电保护测试仪 标准：《继电保护微机型试验装置技术条件》 DL/T 624-2010 《静态继电保护及安全自动装置通用技术条件》 DL 478-2010

检测项：接口功能及技术性能检测 检测样品：继电保护测试仪 标准：《继电保护微机型试验装置技术条件》 DL/T 624-2010 《静态继电保护及安全自动装置通用技术条件》 DL 478-2010

机构所在地：内蒙古自治区呼和浩特市 更多相关信息>>

广东省电子电器产品监督检验所

检测项：共发射极正向电流传输比静态值 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：谐波电流 检测样品：额定电流不大于16A的设备 (单相设备) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2012 IEC 61000-3-2 Ed 3.2 (2005) +A1:2008 +A2:2009 EN 61000-3-2:2006 +A1:2009+A2:2009

检测项：电快速瞬变脉冲群 检测样品：额定电流不大于16A的设备 (单相设备) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2012 IEC 61000-3-2 Ed 3.2 (2005) +A1:2008 +A2:2009 EN 61000-3-2:2006 +A1:2009+A2:2009

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：静态电流ID 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：静态功耗PD 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：静态功耗PD 检测样品：半导体集成电路（电压比较器） 标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

东莞市凯威检测技术有限公司

检测项：部分项目 检测样品：投光灯具 标准：投光灯具安全要求 GB 7000.7-2005 IEC 60598-2-5:1998 EN 60598-2-5:1998 AS/NZS 60598.2.5:2002

检测项：谐波电流 检测样品：电子电器设备(额定电流不大于16A) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012

检测项：注入电流 检测样品：电子电器设备(额定电流不大于16A) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>