可靠性试验与加速试验技术培训课程
一、课程大纲
1 可靠性试验相关的基础知识
A 引言：试验相关的常见名词
与可靠性统计试验相关的技术点：角色、定量方法、基本认识、基本指标、分布、数学与物理的结合、方法及步骤、核心知识点
应力－强度干涉关系
B 可靠性的整体认识：可靠性定义
试验在可靠性工程标准体系中的角色
试验在可靠性工程技术逻辑中的角色
C 可靠性试验基本认识：
不同阶段使用哪些试验
可靠性试验的目的和需求
可靠性试验的分类
环境适应性试验；环境应力筛选；可靠性研制（及增长）试验；可靠性鉴定试验（RQT）；可靠性验收试验（PRAT）；寿命试验
环境试验与可靠性试验的关系
D 加速试验：分类、方法及类型
加速应力试验的基本认识（缺陷激发与寿命评估）
过应力型的加速应力试验
累积损伤型的加速应力试验
加速寿命试验与加速退化试验
最基本的加速寿命模型研究的技术逻辑
加速寿命试验的类型及标准介绍
E 可靠性特征量的概念与示例：
基本可靠性特征量：R(t)：可靠度函数；F(t)：失效分布函数；f(t)：失效密度函数；λ(t)：失效率函数；
示例：批次可靠性数据的各个可靠性指标计算
可靠寿命：可靠寿命的定义及不同寿命的数学与工程用法
θ：MTTF、MTBF，指数分布的平均寿命，θ的计算方法，
示例：批次试验数据的θ计算
示例：θ＝10万小时的指标理解和工程意义
F 常用可靠性指标：不同应用场合的常用可靠性指标选择
其它类可靠性指标（维修性指标、任务可靠性指标、各种耐久性指标）
2 概率统计及数据处理
A 概率的基础：随机现象、随机事件、随机试验、频率和概率
随机变量的数学表达：离散型随机变量、连续型随机变量
B 概率分布及示例：离散型概率分布：二项分布、泊松分布，
示例：控制指示灯成功率
连续型概率分布：1）正态及对数正态分布
示例：微波功率管失效率
2）指数分布
示例：火控系统故障概率
3）威布尔分布
示例：发射管可靠度与失效率
威布尔线性坐标系建立
示例：数据简单线性拟合与工程应用
C 数据的初步整理与分析：主因与次因的分析
因果关系分析
直方图进行数据时间分布的初步判断与计算，
示例：某型产品的数据要素计算
D 分布类型的检验：拟合优度检验的一般步骤
χ2检验方法的一般步骤，截尾数据的检验
示例：批次轴承失效数据分布检验
E 参数估计：分布参数的点估计、极大似然估计
指数分布参数的点估计：平均寿命、可靠度、故障率、可靠寿命等
区间估计：双侧和单侧区间估计的数学原理和工程价值
置信度
试验通过的概率——试验方案的工作特性(OC)
指数分布的区间估计：定数截尾样本的区间估计
定时截尾样本的区间估计
示例：截尾试验无失效的单侧置信下限计算
平均寿命区间真值计算（系数CL、CU表）
示例：两种计算方法所得数据比较
指数分布时无故障数据的区间估计
威布尔分布参数的点估计：
定时和定数截尾两参数威布尔的极大似然估计
F 图估法进行模型检验与参数估计：技术步骤与要点
示例：电能表批次使用数据整理到分析全过程解析
3 可靠性鉴定和验收试验
A、可靠性验证类试验的基本概念与原则
B、统计试验的基本类型、参数、适用范围
C、MTBF评价试验（符合指数分布，连续使用，可维修产品）
基本统计计算方案
采用的标准介绍
定时截尾试验抽样方案
示例：某计算机MTBF鉴定试验方案制定及变化方式
不同使用方风险的定时截尾试验
序贯试验和全数试验等
D、失效率鉴定试验（符合指数分布，连续使用，不可维修产品）
基本统计计算方案
基本概念、标准、原则
不同置信度和标准中的试验抽样方案
示例：某元器件失效率定级鉴定试验方案制定
维持试验抽样方案
批次一致性失效率检验
E、二项分布统计试验（抽样试验的一般考虑，一次性使用产品的成功率评价试验）
故障次数为0的情况的统计计算方案及常用公式
故障次数不为0的情况的统计计算方案
示例：某产品故障次数为0与不为0情况下的方案制定
F、威布尔分布的抽样试验（时间累积特性的“寿命”类评价试验）
失效率λ（B10)考核抽样
示例：某产品λ（B10)考核方案制定
可靠寿命t0.9的抽样试验
示例：某产品t0.9考核方案制定
G、可靠性统计试验的参数确定
H、剖面的确定
4 环境应力效应与典型电子产品失效机理
A 应力与失效机理的认识
B 环境应力试验的作用和分类
人工模拟环境应力试验的作用和分类
C 环境应力的效应：高温、低温、高湿、低湿、高气压、低气压、太阳辐射、沙尘、盐雾、风、雨、温度冲击、加速度、振动等
D 高温的环境效应
示例：功率器件烧毁、硅铝共熔、金键合失效、铝电迁移等
E 低温的环境效应
示例：石英晶片开裂、晶振频漂、芯片开裂、接插件开路等
F 温度变化的环境效应
示例：芯片表面损伤、爆板、LED界面分层等
G 湿度及含盐气氛的环境效应及案例
示例：银电化学迁移、CAF、金属导线腐蚀、塑封器件爆米花等
H 机械应力的环境效应及案例
示例：焊点开裂、芯片开裂、MLCC开裂等
I 综合应力的环境效应
J 电子产品的常见失效机理概要
K半导体热奔，示例
L雪崩击穿， 示例
M 金属间化合物生长， 示例
N 热截流子注入、可动离子， 示例
O 电化学腐蚀与迁移， 示例
P 电迁移， 示例
Q 热疲劳， 示例
R 应力迁移， 示例
S 机械疲劳， 示例
T 微动摩蚀， 示例
5 加速试验技术及产品加速试验方法标准介绍
A 加速试验的模型：
1）A类：定性加速试验（用于发现故障模式或故障现象）
HALT的技术思路
HALT的基本认识
HALT的加速原理
HALT/HASS的产品研发与制造过程中应用的技术流程
HALT的应力类型及应用
HALT的应力试验施加步骤、步进应力跨度、停留时长、停止原则、设备参数
示例：某电控板的HALT案例
示例：某DC/DC的HALT案例
HAST介绍
HASS、HASA介绍
高加速应力试验的应用优点与缺点
2）B类及C类：定量加速试验方法（用于预计产品正常使用时的失效分布）
定量加速试验的目的
定量加速试验的物理基础
B类试验的优点与缺点
C类试验的方法
3）失效机理及试验设计
试验应力水平、剖面及综合应力的确定和试验-应力建模
4）多应力加速方法论－B类试验：模型的建立与推导
5）单应力和多应力的B类加速试验：单应力加速方法及常用模型
逆幂律
阿伦尼斯模型，示例：功率放大器高温加速激活能获取
艾林模型
时间函数变化－步进应力模型
重复应力－疲劳
6）事件压缩及时间压缩试验的实施步骤（C类试验）
7）定量可靠性试验的加速：要求及目标
可靠性验证与寿命：适用类型、剖面与机理考虑
元器件的可靠性测定
元器件及系统的可靠性参数
8）加速可靠性验证试验或评估试验：指数分布的加速因子公式推导
整机加速因子公式推导
示例：某汽车电子加速试验方案设计与加速因子
加速可靠性增长试验
加速试验指南
B 产品研发阶段的加速试验策略
加速试验抽样方案
试验应力和试验时间
多应力条件下的元器件试验
系统与组件的加速试验
试验结果分析
C 其它
加速寿命试验标准程序
示例：某元器件温冲加速试验经验因子评估，分布模型到加速模型
示例：确定半导体器件电压加速因子
D 加速试验方案的设计：加速应力试验组和样品选择，应力选择，测试周期确定，试验停止时间
G 完整过程的示例：某产品高温加速寿命试验的方案设计、数据图估法分析
H 示例：1）已经激活能情况下的加速因子计算；
2）结合指数分布参数估计方法的MTBF
I 加速试验方法的局限性
二、培训时长
两天（共12个课时）
三、培训对象
1、产品研发设计工程师
2、质量工程师和可靠性工程师
3、失效分析技术人员等
四、培训收益
1、学习可靠性试验的相关基本概念、标准和应用；
2、正确理解统计试验数学方法、失效机理、试验应力、加速试验等技术点。
培训证书:
学员成功完成本课程，可获培训证书。
报名方式
1. 填写附件《培训报名表》
2. 缴纳报名费，将费用划入如下账户，在转账汇款备注中请务必写明您的公司和姓名，以便我们确认。
账户名称：北京优测科技发展有限公司
开户银行：中国建设银行北京长安支行
银行账号：1100 1028 1000 5301 6525
3. 将《培训报名表》及银行转账的证明（银行回单或者相应的截图）发到以下邮箱
info@anytesting.com
报名咨询
江先生 电话：4008180021 152 0138 0360
微信：152 0138 0360 邮箱：info@anytesting.com
附表1：培训时间与地点
（全年全国巡回培训，包括：深圳、广州、福州、武汉、杭州、宁波、上海、苏州、南京、重庆、成都、北京、天津、沈阳、青岛等）
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